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        Multitest交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)

        —— InPhone系統(tǒng)專(zhuān)用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測(cè)試與校準(zhǔn)
        作者: 時(shí)間:2011-09-20 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          德國(guó)羅森海姆,2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商,設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠(chǎng)商公司,已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款系統(tǒng)。配合 InStrip 分選機(jī),系統(tǒng)專(zhuān)用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測(cè)試與校準(zhǔn)。InStrip 配置適于InCarrier測(cè)試。因此,單粒MEMS封裝可通過(guò)InStrip分選機(jī)進(jìn)行高并行性測(cè)試。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/123695.htm

          

         

          對(duì)于先進(jìn)的移動(dòng)通信應(yīng)用而言,麥克風(fēng)MEMS器件變得愈發(fā)重要。這些應(yīng)用需要擴(kuò)展線(xiàn)性頻率范圍,通常亦要求小型封裝,但同時(shí)要求嚴(yán)格控制成本。

          Mulltitest的解決方案基于壓力腔體的激勵(lì),該壓力腔體可確保所有并行測(cè)試器件內(nèi)的同質(zhì)聽(tīng)覺(jué)激勵(lì)。InCarrier®概念甚至能夠支持適于小型器件的穩(wěn)定高并行度測(cè)試。因此,該裝置擁有獨(dú)特的性能和測(cè)試成本優(yōu)勢(shì)。



        關(guān)鍵詞: Multitest InPhone

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