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        Multitest InCarrier 現(xiàn)提供一系列上下料配置

        —— 為不同應(yīng)用提供可靠高并行分選解決方案
        作者: 時(shí)間:2012-06-08 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          面向世界各地集成設(shè)備制造商(IDM)和最終分包商,設(shè)計(jì)和制造分選機(jī)、座、測試負(fù)載板的領(lǐng)先廠商公司,日前宣布其 設(shè)備可提供各種配置的上料和下料模式,例如從料管、震動(dòng)盤和托盤上料,以及向料管、散料或金屬料條等下料的任意組合。除此之外,還可以提供劃片后的上料或向卷帶包裝下料的解決方案?! ?/p>本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/133349.htm

         

           作為獨(dú)特的測試分選解決方案,把條帶分選流程的重大優(yōu)勢和標(biāo)準(zhǔn)測試分選流程結(jié)合在一起。概念是將單粒IC裝入托盤/載體然后在InStrip 進(jìn)行測試,InStrip 的高并行條帶測試分選機(jī)。最后,被測IC用InCarrier分選至最終的包裝和運(yùn)送介質(zhì)。Multitest InCarrier 為這些流程提供上料和下料的解決方案。

          InCarrier 提供了一種高穩(wěn)定性,高并行測試流程的獨(dú)特的解決方案。適用于小至1.2 x 1.2 mm封裝尺寸的半導(dǎo)體和傳感器元器件。

          InCarrier 流程已經(jīng)被歐洲,美國和亞洲的大批量的量產(chǎn)客戶所認(rèn)可,并應(yīng)用于汽車和消費(fèi)電子。



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