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Multitest交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)
- 德國(guó)羅森海姆，2011年9月----面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最終測(cè)試分包商，設(shè)計(jì)和制造最終測(cè)試分選機(jī)、測(cè)試座和負(fù)載板的領(lǐng)先廠商Multitest公司，已向一家知名IDM的歐洲基地交付首款I(lǐng)nPhone系統(tǒng)。配合Multitest InStrip 分選機(jī)，InPhone系統(tǒng)專(zhuān)用于MEMS麥克風(fēng)的高并行度MEMS測(cè)試與校準(zhǔn)。InStrip 配置適于InCarrier測(cè)試。因此，單粒MEMS封裝可通過(guò)InStrip分選機(jī)進(jìn)行高并行性測(cè)試。
- 關(guān)鍵字： Multitest InPhone
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