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        便攜式場強測試儀參考環(huán)的低噪聲設(shè)計

        作者: 時間:2009-12-16 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        0 引 言
        對第一本振相位噪聲要求較高,其參考頻率由提供,因此對的相位噪聲要求也很高。采用∑-△調(diào)制技術(shù)降低相位噪聲,具體原理見參考文獻。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/195582.htm


        1 設(shè)計方案
        場強儀第一本振的主要性能指標:
        頻率范圍:4031.25~7031.25MHz;單邊帶相噪:≤-100dBc/Hz@10kHz
        由此計算出參考頻率的指標:
        頻率范圍:31.25~62.5MHz;單邊帶相噪:≤-118dBc/Hz@10kHz
        第一本振方案框圖如圖1所示。
        圖1中,左框內(nèi)為本振環(huán);右框內(nèi)為參考環(huán);其余部分為步進環(huán)。

        2 參考環(huán)環(huán)路濾波器帶寬設(shè)計
        鎖相環(huán)環(huán)路帶寬內(nèi)的相位噪聲主要是由分頻器、鑒相器以及參考信號的噪聲決定的,而在環(huán)路帶外的相位噪聲則是由VCO的相位噪聲來決定的。因此選擇帶寬時要綜合考慮帶寬內(nèi)的相位噪聲和VCO的相位噪聲,以求達到最佳的噪聲效果。
        下面計算參考環(huán)的環(huán)路濾波器帶寬:
        參考環(huán)的環(huán)路濾波器采用有源二階積分濾波器。壓控振蕩器歸一化相位噪聲功率譜密度:


        式中:f0為壓控振蕩器的中心頻率;F為頻偏;Q為回路品質(zhì)因數(shù)。
        晶振的歸一化相位噪聲功率譜密度:


        式中:fr為晶體振蕩器的諧振頻率;F為頻偏。
        在忽略鑒相器本身噪聲的條件下,環(huán)路輸出的歸一化總相位噪聲功率頻譜密度為:

        二階鎖相環(huán)路系統(tǒng)通常設(shè)計在欠阻尼狀態(tài)使用,即0ξ1?,F(xiàn)取阻尼系數(shù)ξ=0.5,fr=10MHz,f0=500MHz,Q=500,則:

        由此算出環(huán)路閉環(huán)頻率響應(yīng)的伯德圖如圖2所示。
        一起畫到圖2(a)中,可見兩噪聲譜交于F=104Hz附近。綜合考慮,選擇在兩譜線相交頻率處顯然是最有利的,即fn=104Hz。分別過濾后相位噪聲如圖2(a)虛線所示。由圖可見,晶振噪聲經(jīng)過低通過濾以后,在F>fn的高頻段內(nèi)噪聲譜已低于晶振的噪聲。圖2(a)是歸一化的輸出相位噪聲,實際輸出的相位噪聲應(yīng)乘以fo2,如圖2(b)所示。


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