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        基于LabVIEW和NI PXI射頻儀器ST-Ericsson將半導(dǎo)體測(cè)試速度提升10倍

        作者:SylvainBertrand 時(shí)間:2012-07-09 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          挑戰(zhàn)

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/134408.htm

          構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案,滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn),進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。

          解決方案

          使用軟件定義的 PXI平臺(tái),取代笨重、昂貴、難以調(diào)整的箱型儀器。

          在智能手機(jī)與平板電腦的半導(dǎo)體開發(fā)方面,是業(yè)界的領(lǐng)導(dǎo)廠商。我們?cè)谌蚨荚O(shè)有開發(fā)與測(cè)試中心以及多個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室,可完整 地測(cè)試與驗(yàn)證智能手機(jī)和平板電腦的射頻元件/平臺(tái)。 這些平臺(tái)包含多種無線電,例如GPS、藍(lán)牙、3G、4G等規(guī)格,這一系列的平臺(tái)測(cè)試作業(yè)包含了近800,000次測(cè)量。

          芯片本身極為復(fù)雜,因此就需要驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室能夠滿足多種射頻標(biāo)準(zhǔn),且達(dá)到嚴(yán)格測(cè)試的效能需求。 就算只是連接這些芯片,也需要多種標(biāo)準(zhǔn)與自定制數(shù)字協(xié)議。然而,射頻分析儀、發(fā)生器、數(shù)字波形發(fā)生器等傳統(tǒng)箱型儀器體積龐大又昂貴,且其靈活度無法滿足的需求。

          ST-Ericsson的測(cè)試工程師因此選用了PXI平臺(tái)來取代傳統(tǒng)箱型儀器。 他們選擇了 FlexRIO與不同的數(shù)字標(biāo)準(zhǔn),例如串行外設(shè)接口(SPI)和內(nèi)置集成電路(I2C),進(jìn)行通信。即便目前市面上的數(shù)字適配器模塊不能夠滿足需求,工程師也可快速開發(fā)自己的適配器模塊,無需擔(dān)心電腦后端以及FPGA通信功能。 針對(duì)射頻測(cè)試,ST-Ericsson選用了高性能的 PXIe-5665矢量信號(hào)分析儀,它具備軟件定義的特性,并可與NI LabVIEW工具包兼容,滿足所有無線標(biāo)準(zhǔn)。  

          

         

          總的來說,相較之前的解決方案,PXI系統(tǒng)速度提升了十倍,而成本是之前的三分之一。PXI平臺(tái)的靈活性,能夠適應(yīng)各種不同的數(shù)字和射頻標(biāo)準(zhǔn)。



        關(guān)鍵詞: NI ST-Ericsson

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