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        ASML一體化光刻解決方案延續(xù)摩爾定律

        作者: 時間:2009-07-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          集團公司在美國舊金山舉行的SEMICON West展會上發(fā)布多項全新光刻設(shè)備,讓芯片制造商能夠繼續(xù)縮小半導(dǎo)體器件尺寸。™ (可編程照明技術(shù))和™ (反饋式調(diào)控機制)為一體化光刻技術(shù) (holistic lithography)的一部分,具有高穩(wěn)定性,能夠優(yōu)化和穩(wěn)定制造工藝。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/96351.htm

          半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展的推動力量來自小型化趨勢,以降低生產(chǎn)成本,同時提高器件性能。不過,隨著半導(dǎo)體器件尺寸的縮小,工藝窗口(生產(chǎn)出合格芯片的工藝允許偏差)也相應(yīng)減小,使套刻精度和器件尺寸均勻性(critical dimension uniformity, CDU)等參數(shù)變得更為嚴格。

           公司應(yīng)用產(chǎn)品部門資深副總裁Bert Koek 表示:“一直以來,芯片廠商對各個制造工藝步驟的優(yōu)化都是獨立進行的,然而當(dāng)發(fā)展至32nm及更小節(jié)點時,這種獨立的優(yōu)化模式便不再適用。我們有效地綜合了計算光刻技術(shù)、晶圓光刻技術(shù)和工藝控制,提供了一個全面方案,針對量產(chǎn)的要求去優(yōu)化工藝窗口和光刻系統(tǒng)設(shè)置,最終實現(xiàn)更小的器件尺寸。”

          在芯片設(shè)計階段,ASML的一體化光刻技術(shù)使用實際的光刻機配置和調(diào)節(jié)功能,以工藝窗口最大化為目標來創(chuàng)建瞄準指定工藝世代和應(yīng)用的設(shè)計。Brion Technologies公司總經(jīng)理Jim Koonmen表示:“我們在今年2月份發(fā)布了Tachyon SMO (光源掩模優(yōu)化) 技術(shù),而這次發(fā)布的為光瞳形狀帶來靈活性,并提供額外設(shè)計自由度。Tachyon SMO 和 的結(jié)合,使光源掩模和照明源實現(xiàn)無以倫比的協(xié)同優(yōu)化,以獲得最大的工藝窗口。”

          在制造過程中,ASML一體化光刻技術(shù)充分利用獨特的測量技術(shù)和反饋回路,監(jiān)控套準精度及CDU性能,使系統(tǒng)持續(xù)以工藝規(guī)格為中心。™ 則能夠讓光刻機性能維持在預(yù)先定義的基準范圍之內(nèi),從而實現(xiàn)最佳工藝窗口,并提高產(chǎn)品良率。

          Tachyon SMO、FlexRay 和 是ASML的™ 一體化光刻設(shè)備系列眾多產(chǎn)品的其中三項。而每個方案都是針對特定的客戶、工藝節(jié)點及應(yīng)用而量身定做的。



        關(guān)鍵詞: ASML FlexRay BaseLiner Eclipse

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