復(fù)雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)
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作者：Louise Parker 泰克公司
時(shí)間：2009-06-15
來源：電子產(chǎn)品世界
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由于從標(biāo)簽(T)到閱讀器 (R) (表示為T→R)的上行方向從詢問器的CW信號(hào)中調(diào)制，因此可以使用擴(kuò)頻技術(shù)，如跳頻。在接收機(jī)零差下變頻中，任何詢問器信號(hào)的擴(kuò)展或跳頻會(huì)被自動(dòng)刪除，因?yàn)樗鼈児蚕硐嗤谋菊?LO)信號(hào)。
當(dāng)存在多個(gè)標(biāo)簽、多個(gè)閱讀器和干擾時(shí)，這個(gè)簡單的系統(tǒng)會(huì)變得更加復(fù)雜。讓我們看一下來自這些情況下的兩個(gè)RFID設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。
多個(gè)閱讀器和密集模式環(huán)境
無源RFID標(biāo)簽的寬帶特點(diǎn)也給密集的(多個(gè))閱讀器站點(diǎn)帶來了某些挑戰(zhàn)。由于標(biāo)簽閱讀器確定了系統(tǒng)的工作頻率，且標(biāo)簽是對(duì)任何閱讀器進(jìn)行應(yīng)答的寬帶設(shè)備，因此標(biāo)簽對(duì)某個(gè)特定閱讀器的應(yīng)答能力有限。無源標(biāo)簽可能會(huì)試圖對(duì)所有發(fā)出詢問的閱讀器做出應(yīng)答。
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