復雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰(zhàn)

• 亞微米互補金屬氧化物半導體(CMOS)的最新發(fā)展，可望進一步擴展RFID技術的應用。高精度供應鏈管理、無接觸POS交易、防偽和資產(chǎn)追蹤/監(jiān)測技術所帶來的各項優(yōu)勢，正推動著RFID技術的迅速普及。但是，這種新技術自身也面臨著許多測試挑戰(zhàn)。本文討論復雜RFID工作環(huán)境中的測試挑戰(zhàn)，包括多個閱讀器、密集模式環(huán)境和預先存在的非RFID信號可能引起的吞吐量和通信問題。
• 關鍵字： 泰克  RF  RFID  工作環(huán)境  米勒調(diào)制副載波  任意波形發(fā)生器  實時頻譜儀  200906