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        測試測量技術發(fā)展趨勢

        作者:徐赟 NI中國技術市場工程師 時間:2009-06-15 來源:電子產品世界 收藏

          趨勢二:多核/并行測試帶來機遇和挑戰(zhàn)

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/95265.htm

          多核時代的來臨已成為不可避免的發(fā)展趨勢,雙核乃至八核的商用PC現(xiàn)在已隨處可見。得益于PC架構的定義的儀器,用戶可以在第一時間享受到多核處理器為自動化測試應用帶來的巨大性能提升。

          要充分發(fā)揮多核的性能優(yōu)勢,就必須創(chuàng)建多線程的應用程序,例如我們可以將自動化測試程序的數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析、數(shù)據(jù)記錄乃至用戶界面部分創(chuàng)建不同的線程,從而分配到不同的核上來并行運行。不過,這種并行的開發(fā)理念使得習慣于傳統(tǒng)串行開發(fā)方式的工程師難以適應,尤其是當核的數(shù)目越來越多……

          挑戰(zhàn)和機遇往往是并存的,作為圖形化語言的代表,在設計當初就考慮到了并行處理的需求,從 5.0開始支持多線程到現(xiàn)在已有10多年的歷史。通過自動的程序多線程化(見圖2),開發(fā)人員可以無需考慮底層的實現(xiàn)機制,就可以高效地享用多核技術所帶來的益處。

          無論是歐南天文臺極大望遠鏡高達2700萬次乘加運算的鏡面控制,到Tokamak核聚變裝置的實時處理運算,還是NASA的飛機安全性測試和TORC汽車控制快速原型設計,多核技術都為這些應用帶來了巨大的性能和吞吐量的提升,隨著多核技術的進一步發(fā)展,提升的幅度將更為可觀。

          趨勢三:基于FPGA的自定義儀器將更為流行

          隨著設計和測試的要求越來越高,F(xiàn)PGA(現(xiàn)場可編程門陣列)技術正逐漸被引入到最新的模塊化儀器中,這也就是我們所說的基于FPGA的自定義儀器。

          FPGA的高性能和可重復配置特性一直是硬件設計工程師們的最愛,而對于測試工程師而言,又何嘗不想擁有硬件級的確定性和并行性呢?像諸如實時系統(tǒng)仿真、高速內存測試等應用都需要用到FPGA來確保響應的實時性和高速的數(shù)據(jù)流入和流出,F(xiàn)PGA的IP核更可以為工程師植入自主知識產權的算法提供契機。然而,苦于對硬件設計知識的缺乏和對VHDL或Verilog語言編程的恐懼,許多測試工程師對于FPGA技術望而卻步。



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