中國北京, 2009年4月8日 – 全球領先的測試、測量和監(jiān)測儀器提供商--泰克公司日前宣布將在2009年4月8日北京富力萬麗酒店舉行的2009年英特爾信息技術峰會(IDF 2009 Beijing)上展示最新的高速串行測試解決方案。作為領先的先進高速串行技術測試解決方案提供商，泰克將演示其為USB3.0、PCI Express 3.0、第三代串行ATA和10G以太網(wǎng)開發(fā)的尖端測試解決方案。

　　泰克在信號完整性及復雜的高速測量和分析中擁有業(yè)內(nèi)無可比擬的技術力量。英特爾公司最近授予了泰克首選優(yōu)質(zhì)供應商(PQS)獎，以表彰其在2008年為英特爾作出的重要貢獻。泰克一直為英特爾提供驗證測試設備，幫助英特爾產(chǎn)品開發(fā)團隊向市場上推出下一代產(chǎn)品。

　　SuperSpeed USB (USB 3.0)一致性測試解決方案

　　生產(chǎn)型SuperSpeed USB接口IC預計將在2010年初開始出貨。泰克USB測試解決方案為產(chǎn)品開發(fā)人員提供了一整套完善的工具，保證其物理層(PHY)設計滿足最新的USB規(guī)范。

　　泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于多種儀器，包括實時示波器、采樣示波器、任意波形發(fā)生器等，提供了杰出的測量性能，滿足了高速串行標準需求。例如，DSA71254實時示波器擁有五倍于串行信號時鐘速率的帶寬，這個“五階諧波”對眼圖分析具有關鍵性的意義。類似的，AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復雜的波形，包含著模擬傳輸路徑劣化效應的壓力，支持接收機測試。這些硬件工具與專家應用軟件配套使用，如DPOJET抖動和眼圖分析工具和SerialXpress高級抖動生成工具，為設計人員檢驗和調(diào)試設計提供了所需的工具。

　　PCI Express 3.0、第三代串行ATA 和10G以太網(wǎng)測試解決方案

　　PCI Express 3.0規(guī)范提供了一條8GT/s鏈路，通過數(shù)據(jù)加擾功能，使數(shù)據(jù)速率較2.0時提高一倍。憑借DSA72004B實時示波器、串行數(shù)據(jù)鏈路分析軟件、DPOJET抖動和眼圖分析工具及P7520 TriMode三模差分探頭，泰克為數(shù)據(jù)處理層、鏈路層和物理層測試提供了最強大、最完整的測試系列。

　　第三代串行ATA存儲接口規(guī)范將最大傳送速度從3 Gb/s提高到6 Gb/s，為實現(xiàn)更高性能的存儲解決方案鋪平了道路，包括新興的固態(tài)驅(qū)動器和企業(yè)商務存儲需求。通過泰克AWG7000B任意波形發(fā)生器系列和泰克DSA/DPO70000B示波器系列，泰克為串行ATA Gen 3提供了業(yè)內(nèi)領先的物理層測試功能。

　　隨著以太網(wǎng)標準被迅速采用，工程師們一直面臨著驗證物理層以太網(wǎng)設備和改善效率的壓力。泰克為模擬驗證、一致性測試和設備檢定提供了一整套完善的集成工具，包括10BASE-T、100BASE-TX、1000BASE-T和10GBASE-T技術。這套工具包括D