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        系統(tǒng)設(shè)計(jì)中測(cè)試EMC(07-100)

        —— Testing EMC in system design
        作者: 時(shí)間:2009-03-04 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          ()總是最后被檢驗(yàn)的性能。由于此檢驗(yàn)是在性能、振動(dòng)和熱測(cè)試之后,所以如不能滿足要求,對(duì)成本的影響是相當(dāng)大的。所以,在設(shè)計(jì)的早期開(kāi)發(fā)階段,需要進(jìn)行設(shè)備測(cè)試,在正式進(jìn)行測(cè)試前給出系統(tǒng)性能的預(yù)測(cè)結(jié)果。但是EMC測(cè)試設(shè)備昂貴而且使用復(fù)雜。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/92059.htm

          本文提出一種基于傳導(dǎo)輻射和傳導(dǎo)敏感度測(cè)試基礎(chǔ)上的EMC臺(tái)式測(cè)試方法。

          在傳導(dǎo)敏感度測(cè)試中,被測(cè)設(shè)備(EUT)放置在測(cè)試臺(tái)上、電壓固定在纜線周?chē)?。在測(cè)試期間,大幅度、可變頻率、共模電流流入纜線。

          在傳導(dǎo)輻射測(cè)試中,電流變壓器固定在纜線周?chē)?。在寬頻率范圍內(nèi)EUT正常運(yùn)行并監(jiān)視共模電流。若沒(méi)有一個(gè)峰值在響應(yīng)中超過(guò)預(yù)定限值,則相信設(shè)備符合要求。

          傳導(dǎo)敏感度和輻射

          用圖1所示裝置可以測(cè)量共模源和呈現(xiàn)在EUT輸入端差分信號(hào)之間的傳遞特性。這些測(cè)量可用于確定差模干擾。

          圖1 傳導(dǎo)敏感度測(cè)量框圖

          一旦知道傳遞特性,直接注入差模干擾到接口電路并觀察設(shè)備響應(yīng)變?yōu)榭赡堋=?個(gè)模型確定共模和差模信號(hào)之間的纜線耦合關(guān)系成為可能。在承受干擾時(shí)仿真EUT性能也是可能的。

          可以用同樣的方法分析系統(tǒng)的輻射特性,這類(lèi)測(cè)試裝置示于圖2。用一個(gè)正弦源加一個(gè)強(qiáng)確定信號(hào)到EUT1和被測(cè)纜線間的接口電路上。


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