標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言

　　標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試接口語(yǔ)言(STIL)是1999年3月通過(guò)的，它是一個(gè)廣泛的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，開(kāi)始的意圖是從設(shè)計(jì)到制造整個(gè)期間使測(cè)試和測(cè)試設(shè)計(jì)(DFT)信息有明確和完整的通信。STIL標(biāo)準(zhǔn)包括幾個(gè)擴(kuò)展版本，有些已獲通過(guò)，有些正在開(kāi)發(fā)改變階段。

　　通常，工程技術(shù)人員所談?wù)摰?a class="contentlabel" href="http://www.antipu.com.cn/news/listbylabel/label/STIL">STIL是指IEEE1450 .0，此擴(kuò)展版本規(guī)定用于自動(dòng)測(cè)試圖形產(chǎn)生(ATPG)工具到測(cè)試程序圖形產(chǎn)生工具傳輸向量和定時(shí)信息的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)格式。

　　在STIL通過(guò)時(shí)，業(yè)內(nèi)已經(jīng)有成熟的基于向量語(yǔ)言(如波形產(chǎn)生器語(yǔ)言WGL)的方案。STIL比已有的方案具有更有效的表示法。然而，在此語(yǔ)言中沒(méi)有足夠重要的新性能迫使可能的用戶改變他們已有的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)。

　　盡管，此方案已存在一段時(shí)間，但一個(gè)完整、無(wú)縫STIL基DFT方案至今不能使用。沒(méi)有一個(gè)完整方案和一個(gè)迫使改變的原因，則采用它是慢速的。

　　然而，隨著SoC公司認(rèn)識(shí)到STIL擴(kuò)展型具有上市快、節(jié)省測(cè)試成本的顯著特點(diǎn)，其支持的呼聲增高。EDA、ATE和測(cè)試程序產(chǎn)生工具公司響應(yīng)IP核和SoC供應(yīng)商采用新標(biāo)準(zhǔn)基產(chǎn)品對(duì)STIL增長(zhǎng)興趣的呼聲。隨著STIL擴(kuò)展型所具有的上市快、低測(cè)試成本的具體實(shí)現(xiàn)，圍繞這些標(biāo)準(zhǔn)的市場(chǎng)繼續(xù)建立。下面詳述具有擴(kuò)展型之一的P1450.6。

　　CTL基方案

　　IEEEP1450.6CTL(核測(cè)試語(yǔ)言)是STIL的一個(gè)擴(kuò)展型，它為描述IP核和SoC測(cè)試信息生存標(biāo)準(zhǔn)格式。

　　CTL是針對(duì)SOCDFT的軟件語(yǔ)言?？捎肅TL捕獲測(cè)試器件系統(tǒng)中每個(gè)IP核所需的所有數(shù)據(jù)。CTL使測(cè)試相關(guān)信息在核供應(yīng)商和與SoC測(cè)試有關(guān)的系統(tǒng)集成商中能明確通信。假若成功，則CTL和其他STIL擴(kuò)展型一起將極大地使SoC的IP核和IP核測(cè)試再用變?nèi)菀住?/p>

　　CTL所描繪設(shè)計(jì)信息如下：

　　Environment{
 　　CTL mode-1{
 　　//Mode Setup Seauence
 　　//Structures
 　　//Patterns Andtheirinfo
          　　}
  　　}

　　上述語(yǔ)言是CTL中設(shè)計(jì)配置中的分塊表示。這些配置稱之為測(cè)試模式。

　　為了處理不同設(shè)計(jì)的需求，語(yǔ)言采用指令序列，用STIL語(yǔ)法建立測(cè)試模式。對(duì)于每個(gè)測(cè)試模式，CTL提供適用的結(jié)構(gòu)信息，設(shè)計(jì)終端的特性、測(cè)試應(yīng)用相關(guān)的連通和測(cè)試圖形。用CTL提供的關(guān)于核的測(cè)試信息，可以再用于與核有關(guān)的測(cè)試圖形，在SoC上執(zhí)行所有必須的DFT、ATPG和失效仿真操作以及完成測(cè)試呈現(xiàn)在核中的SoC邏輯。

　　CTL設(shè)計(jì)成允許采用的任何DET和測(cè)試方法?？紤]到核的所有可能的集成情況，其語(yǔ)言必須完全描述每個(gè)已知的DFT概念和測(cè)試方法。這種通用性可使語(yǔ)言有很多其他應(yīng)用。