電壓比較器VIO的開環(huán)測試 作者： 時間：2005-05-11 來源： 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統(tǒng)測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式，測試原理圖見圖1。 在輔助運放A的作用下，整個系統(tǒng)構成穩(wěn)定的閉環(huán)網絡，從而使VD=0，則 VC = -VS1
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