圖2. Qualcomm Atheros采用LabVIEW來設(shè)計NI矢量信號收發(fā)儀的FPGA，藉由數(shù)字方式來控制待測設(shè)備。

傳統(tǒng)的堆疊式儀器測量通常會受限于最佳的評估增益表選項。 因此Qualcomm Atheros的團隊必須通過反復(fù)評估才能找出最終的解決方案，每次評估都得還原增益表特性。 這是相當(dāng)緩慢的流程，每次評估都會產(chǎn)生大約40個重要數(shù)據(jù)點。

改用NI PXI矢量信號收發(fā)儀之后，測試速度變快了，所以我們可執(zhí)行完整的增益表掃頻，而不是去反覆評估。 這樣一來，Qualcomm Atheros的團隊即可在單一設(shè)備的每次測試掃頻中，全面測試無線電運作的特性，進而采集全部共300,000個數(shù)據(jù)點，以便確切判斷出最理想的運作設(shè)置。 鑒于這樣的數(shù)據(jù)操作流程，我們能以前所未有的方式掌握設(shè)備的運作狀況，負(fù)責(zé)團隊即可探索以前從未設(shè)想過的運作機制。

圖3.就傳統(tǒng)儀器而言，每次測試大約會取得40個重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀(VST)的測試速度非常快，因此能執(zhí)行完整的增益表掃頻，進而采集共300,000個數(shù)據(jù)點。

我們通過儀器的射頻前端元件直接同步處理數(shù)字控制時序，測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上，甚至超越原本的傳統(tǒng)儀器解決方案200倍之多。

圖4. Qualcomm Atheros通過儀器的射頻前端元件直接同步處理數(shù)字控制時序，測試速度比以前的PXI解決方案快了20倍以上，甚至超越原本的傳統(tǒng)儀器解決方案200倍之多。

提供更佳的靈活性、自由度和測試性能

對Qualcomm Atheros來說，儀器的靈活性與精密控制非常重要，因為這可以有效提升射頻測試流程的效率，所以我們使用NI全新的矢量信號收發(fā)儀時，優(yōu)異的測試性能讓人非常滿意。 我們?yōu)榭蛻糸_發(fā)802.11ac解決方案的過程中，NI PXIe-5644R為我們帶來了自由度和靈活性，并大大提高了我們的測試吞吐量。