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        影響磁性測厚儀測量精度的因素有哪些

        作者: 時(shí)間:2014-03-01 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        影響的因素主要有:基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、外界磁場、附著物質(zhì)、測頭壓力、測頭位置、試樣的變形等。

          一、影響的因素及有關(guān)說明

         ?、?基體金屬磁性

          磁性法測厚受基體金屬的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理及冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

         ?、?基體金屬厚度

          每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。

         ?、?邊緣效應(yīng)

          儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

         ?、?曲率

          試件的曲率對(duì)測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

          ⒌ 表面粗糙度

          基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

          ⒍ 磁場

          周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

         ?、?附著物質(zhì)

          對(duì)那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

         ?、?測頭壓力

          測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù),因此儀器測頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。

         ?、?測頭的放置

          測頭的放置方式對(duì)測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

         ?、?試件的變形

          測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上會(huì)測出不太可靠的數(shù)據(jù)。

          二、使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

         ?、?基體金屬特性

          標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

         ?、?基體金屬厚度

          檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度。

         ?、?邊緣效應(yīng)

          不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。

         ?、?曲率

          不應(yīng)在試件彎曲表面上測量。

         ?、?讀數(shù)次數(shù)

          通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在指定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

          ⒍ 表面清潔度

          測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。



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