FPGA的缺點

　　最明顯的突出的問題是可見性。理論上說， FPGA中每個邏輯元件都可以通過芯片的調(diào)試接口觀察。但是，廠商估計只有一半的FPGA用戶在設計中加入了調(diào)試接口并將其用于驗證?？紤]到內(nèi)置調(diào)試口提供的功能是如此強大，這非常令人吃驚。Xilinx公司的Patel認為，隨著FPGA規(guī)模變大，人們會更普遍地使用調(diào)試接口。

　　因此，在多數(shù)情況下，如果想觀測設計中的某個信號，就必須先把它引出到一個引腳，然后用邏輯分析儀分析它。由于邏輯分析儀的特點，可能還需要引出大量其他信號，如內(nèi)部時鐘。這樣做就會有很多額外的工作，另外，如果要觀測的信號是一個與I/O塊相隔甚遠的快信號，可能還必須降低FPGA上的時鐘頻率。因此，一些經(jīng)理認為：在原始驗證方案中包括對FPGA信號可觀性的要求是很重要的。

　　訪問信號所需的附加設計工作是該方法的一個缺點。芯片內(nèi)部節(jié)點的激勵和觀測還涉及另一個問題，那就是需要修改設計、重建和重新綜合測試，因此有可能導致設計和測試部分不能清楚地分割開。如果不能仔細地將調(diào)試代碼和設計代碼分開和切實做好版本控制，就可能無法跟蹤這些修改，有可能發(fā)生類似于外科醫(yī)生把手術工具留在患者體內(nèi)的情況。

　　另外，建立測試的時間也是個弱項。規(guī)模較大的設計中，綜合時間并不短，而插入測試設備、重建、重新綜合和重新繪圖的時間也會是個重要因素，可以影響到是否進行某個試驗。這里采用增量綜合（Incremental-synthesis）工具會有所幫助，但是對于有2千萬個門的設計，構(gòu)造和合成過程可能需要一晚上的時間。

　　最后，將測試平臺從模擬環(huán)境轉(zhuǎn)向FPGA環(huán)境也有問題。此時，激勵模塊需要有電路，而非一組模擬命令。觀測某個節(jié)點需要的不僅是命令，還需要有電路和物理儀器。盡管基于斷言的驗證被越來越多的人接受，但似乎還沒人開發(fā)出哪種方法可以系統(tǒng)性地將斷言從模擬環(huán)境移植到FPGA。 “現(xiàn)在還沒有可以自動將斷言移植到FPGA的解決方案，但是我們收到的對該功能的要求在不斷增加，” Simpson說。

　　覆蓋尺度也是一個弱項。雖然對于模擬環(huán)境正在開發(fā)完善的工具來測評驗證覆蓋情況和來自不同類工具的熔斷測量值（fuse measurement），但在FPGA領域，幾乎就沒什么覆蓋的概念，也沒有現(xiàn)存的工具可用于測評測試設計的覆蓋情況并將數(shù)據(jù)報告給中心覆蓋收斂（coverage-closure）系統(tǒng)。