尼得科精密檢測(cè)科技株式會(huì)社（以下簡(jiǎn)稱“本公司”）子公司尼得科 SV Probe 正式發(fā)售以下產(chǎn)品：①半導(dǎo)體設(shè)備溫度測(cè)量探針卡“TC（熱電偶）探針卡”、②可支持高電壓的探針卡“加壓結(jié)構(gòu)探針卡”。

近年來(lái)，電動(dòng)汽車（EV）和工業(yè)設(shè)備等領(lǐng)域使用的功率半導(dǎo)體需求不斷增加，對(duì)高電壓、大電流功率半導(dǎo)體的檢測(cè)、特別是在高溫環(huán)境下進(jìn)行更精確、高質(zhì)量檢測(cè)的需求日益增長(zhǎng)。

① “TC 探針卡”

半導(dǎo)體設(shè)備溫度測(cè)量探針卡“TC 探針卡”是搭載了應(yīng)用熱電偶技術(shù)的探針“TC 探針”的產(chǎn)品，可以像現(xiàn)有技術(shù)一樣與電極 PAD 接觸，在進(jìn)行晶圓檢測(cè)的同時(shí)高精度測(cè)量設(shè)備表面溫度。

② 加壓結(jié)構(gòu)探針卡

加壓結(jié)構(gòu)探針卡是一種具有可加壓結(jié)構(gòu)的探針卡，在設(shè)備小型化需求導(dǎo)致接觸端子間距變窄的情況下，能夠提高耐電壓性能。通過(guò)獨(dú)特技術(shù)，可以封入各種氣體，防止放電對(duì)設(shè)備造成的損壞。此外，封入氮?dú)獠?br/>僅可以防止放電損壞，還能抑制檢測(cè)過(guò)程中探針和設(shè)備的氧化，從而延長(zhǎng)探針壽命并提高其接觸性能。

本公司今后將繼續(xù)利用此次發(fā)售的產(chǎn)品技術(shù)，為半導(dǎo)體設(shè)備檢測(cè)提供更高價(jià)值的接觸解決方案。