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        東芝推出適用于半導(dǎo)體測試設(shè)備中高頻信號開關(guān)的小型光繼電器

        —— 降低插入損耗,改善高頻信號傳輸特性
        作者: 時間:2023-10-17 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

        電子元件及存儲裝置株式會社(“”)近日宣布,推出采用小巧纖薄的WSON4封裝的“TLP3475W”。它可以降低高頻信號中的插入損耗,并抑制功率衰減[1],適用于使用大量繼電器且需要實(shí)現(xiàn)高速信號傳輸?shù)?a class="contentlabel" href="http://www.antipu.com.cn/news/listbylabel/label/半導(dǎo)體測試設(shè)備">半導(dǎo)體測試設(shè)備的引腳電子器件。該產(chǎn)品于近日開始支持批量出貨。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/202310/451648.htm

        TLP3475W采用了經(jīng)過優(yōu)化的封裝設(shè)計,這有助于降低新型的寄生電容和電感。降低插入損耗的同時還可將高頻信號的傳輸特性提高到20GHz(典型值)[2]——與東芝現(xiàn)有產(chǎn)品TLP3475S相比,插入損耗降低了約1/3[2]。

        TLP3475W采用厚度僅為0.8mm(典型值)的小巧纖薄的WSON4封裝,是目前業(yè)界最小的[3],其成功的改善了高頻信號傳輸特性。它的厚度比東芝的超小型S-VSON4T封裝還薄40%,且支持在同一電路板上貼裝更多產(chǎn)品,將有助于提高測量效率。

        東芝將繼續(xù)擴(kuò)大其產(chǎn)品線,為更高速和更強(qiáng)大功能的提供支持。

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        S21插入損耗特性

        ■   應(yīng)用:

        -   (高速存儲器測試設(shè)備、高速邏輯測試設(shè)備等)

        -   探測卡

        -   測量設(shè)備

        ■   特性:

        -   業(yè)界最小的[3]WSON4封裝:1.45mm×2.0mm(典型值),厚度=0.8mm(典型值)

        -   改善高頻信號的傳輸:當(dāng)插入損耗(S21)=–3dB時,f=20GHz(典型值)

        -   常開功能(1-Form-A)

        ■   主要規(guī)格:

        (除非另有說明,Ta=25℃)

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        注:

        [1] 當(dāng)頻段范圍在幾百兆赫茲至上萬兆赫茲時。

        [2] 信號通過輸出MOSFET時功率衰減比(插入損耗)為–3dB的頻段。

        [3] 適用于光繼電器。截至2023年10月的東芝調(diào)查。



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