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      2. 新聞中心

        EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 數(shù)字電路電源完整性測(cè)試系統(tǒng)配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)

        數(shù)字電路電源完整性測(cè)試系統(tǒng)配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)

        作者: 時(shí)間:2017-01-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        高速數(shù)字電路電源完整性精確測(cè)量一直是個(gè)難題,以前大部分研發(fā)單位和公司并不進(jìn)行這些電源完整性參數(shù)的測(cè)量。但是,隨著數(shù)字信號(hào)速率的不斷提升,特別是提升到10Gbps以上數(shù)量級(jí)后,電源完整性的測(cè)量成為關(guān)鍵測(cè)試項(xiàng)目之一。因而,近來(lái)不斷地遇到客戶咨詢電源完整性的測(cè)試方案,所以現(xiàn)在把電源完整性測(cè)試系統(tǒng)的配置和關(guān)鍵性能指標(biāo)整理如下。

        1. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)配置:

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/201701/336014.htm
        • DSO90254A
        • E5061B(Opt: 005,3L5)
        • N2873A(x2)
        • 1250-1250(x2),15442A
        • 85033E
        • 11667L
        • 8120-1840(x4)
        • 16201A(Opt:001),16195B
        • 16092A,16192A(16192A/B/C/D,16197A根據(jù)需要選擇),16047E

        2. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)關(guān)鍵性能指標(biāo):

        • 紋波測(cè)試能力:3mv(P-P)
        • 阻抗測(cè)試能力:1m歐姆---50K歐姆
        • 頻率范圍:5Hz--3GHz
        • 基本測(cè)試精度:+-2%
        • SMD器件測(cè)試能力:頻率DC--3GHz
        • 引腳器件測(cè)試能力:頻率DC-110MHz
        • 直流偏置范圍:0--+-40VDC

        3. 電源完整性測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的測(cè)試功能:

        • 電源紋波測(cè)量
        • 直流-直流轉(zhuǎn)換器環(huán)路增益(幅度和相位)測(cè)量
        • PDN(電源分配網(wǎng)絡(luò))毫歐姆級(jí)阻抗測(cè)量
        • 濾波電容/旁路電容/磁珠等用于電源分配網(wǎng)絡(luò)的器件的阻抗和參數(shù)測(cè)量


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