在這篇博文中，我們將介紹在無負(fù)載、標(biāo)稱負(fù)載和全負(fù)載條件下測試開關(guān)特點的各個步驟。

　　在開始前，應(yīng)確保所有開關(guān)的啟動、關(guān)閉、占空比和死區(qū)時間都符合預(yù)期，如MOSFETs和IGBTs。泰克示波器包括一種高分辨率模式，從根本上提高了垂直分辨率，因此可以使用最高精度計算啟動和關(guān)閉時間。

　　盡管電源的幾乎所有組件都會發(fā)生能量損耗，但絕大部分損耗發(fā)生在開關(guān)晶體管從關(guān)閉狀態(tài)轉(zhuǎn)換到打開狀態(tài)(或反之)的時候。使用所有開關(guān)周期的啟動損耗和關(guān)閉損耗的軌道圖(在DPOPWR軟件中提供)，可以更加全面地了解開關(guān)損耗，如下圖所示

　　開關(guān)/關(guān)閉軌道圖

　　這時，要檢查所有VGS信號的噪聲和碰撞。這是一個重要步驟，因為這個端子上任何非預(yù)計的毛刺都可能會導(dǎo)致不想要的啟動和擊穿。為保證不可能出現(xiàn)擊穿，應(yīng)檢查同步整流器或H橋接器的死區(qū)時間。

　　然后，檢驗門驅(qū)動器和相關(guān)儀器之間的定時關(guān)系，確保其與設(shè)計的計算結(jié)果相符。

　　為安全地測量非參考地電平的信號，我們建議使用相應(yīng)額定電壓的差分探頭。一定不要浮動示波器，因為其會導(dǎo)致不好的結(jié)果。您可以考慮TDP1000、TDP0500或P6251高壓差分探頭，具體視應(yīng)用而定。每種探頭都實現(xiàn)了高速寬帶采集和測量功能，提供了杰出的電氣性能、通用被測器件連接，而且都使用方便。

　　毫無疑問，很難測量浮動門信號。我們建議在門驅(qū)動器輸入上探測信號，這樣您可以檢驗頂部FET與底部FET之間的死區(qū)時間。

　　在最低電壓轉(zhuǎn)換速率上測量電流也可以幫助您最大限度地減少串?dāng)_，改善精度。

　　如需了解開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗測試要點，請參閱本系列博文中的第6篇博文。