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        基于JTAG邊界掃描方式的重構(gòu)控制器的設(shè)計(jì)

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        作者:方超 龔龍慶 張寶利 西安微電子技術(shù)研究所 時(shí)間:2010-02-05 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          圖5為各狀態(tài)機(jī)個(gè)狀態(tài)下接口輸出波形,TCK、TMS、TDI時(shí)序和輸出值滿(mǎn)足JTAG掃描方式配置Virtex-4系列接口激勵(lì)要求。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/105941.htm

          本系統(tǒng)ARM工作時(shí)鐘為50MHz,TCK輸出為25MHz,為便于觀察,TAP_CFG部分狀態(tài)機(jī)中SDR狀態(tài)項(xiàng)實(shí)際由配置方案文件bit位數(shù)決定,仿真圖有所壓縮。

          如果目標(biāo)板是Virtex-4 XC4VLX25,其配置方案文件為995KB,整個(gè)配置過(guò)程大約所需時(shí)間327ms。

          結(jié)語(yǔ)

          本文介紹的控制器具有相對(duì)通用性,適用于對(duì)同一類(lèi)芯片實(shí)現(xiàn)可編程器件在系統(tǒng)配置,使得硬件信息(可編程器件的配置信息)也可以象軟件程序一樣被動(dòng)態(tài)調(diào)用或修改,從而動(dòng)態(tài)的改變電路的結(jié)構(gòu)和功能,對(duì)電路中出現(xiàn)的錯(cuò)誤和故障進(jìn)行實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài),達(dá)到高可靠性的目的,有效節(jié)省邏輯資源,通過(guò)設(shè)計(jì)和仿真驗(yàn)證了此方法的可行性。

          參考文獻(xiàn):

          [1] Xilinx, Virtex-4 Configuration Guide, UG071 (v1.5). 2007

          [2] IEEE Std.1149.1—2001, Test Access Port and Boundary Scan Architecture[S], IEEE, 2001

          [3] Xilinx, Configuration and Readback of the Spartan-II and Spartan-IIE Families[D]. 2002

          [4] 趙蕙. 邊界掃描測(cè)試技術(shù)在遠(yuǎn)程實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)中的應(yīng)用研究[D]. 江蘇大學(xué), 2005

          [5] ARM. ARM9TDMI Technical Reference Manual[EB/OL]. 2008


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