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        博客專欄

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        又踩廠商的雷了!1000多套板子要批量返工,說多了都是淚

        發(fā)布人:芯片之大家 時間:2023-07-02 來源:工程師 發(fā)布文章
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        做出來跟做的好

        前段時間群里有人找那個阻容降壓的資料,阻容降壓方案簡單,便宜。老宇哥手把手教你分析阻容降壓電路,你GET到了嗎?但是 物料選型 還是有講究的,做出來跟做的好還是很不一樣的,做出來容易做好難。這個話題熱心群友旺旺兄看到后,分享了他近期 遇到的坑,下面我們一起學習避坑。

        又踩雷了

        這次踩的可是 廠商埋的雷!光這批量返工成本差不多八千塊,還有一萬五左右的成品及半成品要返工,到那時返工成本還得增加,哎!說多都是淚,大家直接看圖1吧,就是下面這張QA驗貨開的異常單。

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        圖1:QA異常單

        大家看完異常單,是不是很想知道 損壞的電阻 在原理圖哪個位置呢?這個電阻又 起什么作用 呢?別急,以下兩張圖告訴你!

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        圖2:部分原理圖

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        這是一個典型的 阻容降壓 的電源電路,原理大家可以看之前詳細介紹的一篇文章,關(guān)于R211電阻(上圖2紅框中),防浪涌沖擊電阻。我司此產(chǎn)品設(shè)計此位電阻不需具備保險功能,當輸出過載,RL201溫度上升,達到F201熔斷溫度后斷開即可達到保護之目的。

        接下來大家看一下下面左圖(標示金屬皮膜的為QA驗貨測試損壞),能看出來兩顆電阻有什么不同嗎?其實我也看不出來有什么不同的了。那就看下面右圖吧,兩顆電阻刮了表面涂層后,內(nèi)部明顯有很大區(qū)別,廠商回復(fù)為新員工對生產(chǎn)工藝流程認知不足造成失誤,對于庫存此料號電阻全部退回廠商,后續(xù)再重新交貨,返工造成的損耗成本均由廠商買單的處理,廠商也認可。

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        圖3:金屬皮膜跟繞線電阻的區(qū)別

        實驗再現(xiàn):SURGE測試

        測試標準:三種模式,L+N測試電壓為±1000V;L+PE,N+PE測試電壓為±2000V。各模式每個電壓(±)分別打20次,每次20S;角度0°--270°,機臺需能正常工作,且工作狀態(tài)不能改變。

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        特指聲明:以上SURGE測試標準僅代表我司實驗室測試標準,大家不應(yīng)以此作為自己產(chǎn)品測試標準依據(jù),若以我司此標準測試,所造成的后果需自我承擔。

        現(xiàn)在以1/2W 100歐 R-MOF類型的電阻進行實機測試,以這個電阻測試的原因有三個:

        1、1/2W 10歐 R-MOF類型的電阻(廠商失誤引起的那顆電阻)曾經(jīng)有測試,在不同的機種上,以L+N測試電壓±1000V測試,一般30秒左右損壞,有的機甚至3秒內(nèi)就損壞,在此不想再重復(fù)測試;

        2、1/2W 10歐 R-MOF類型的電阻(廠商失誤引起的那顆電阻)已全部退廠商;

        3、1/2W 100歐 R-MOF類型的電阻在當初有客戶委托生產(chǎn)的產(chǎn)品(別公司的產(chǎn)品)有用過,據(jù)客戶市場部反饋,此電阻損壞較多,故在此進行下實驗驗證(因手頭上無客戶委托生產(chǎn)的產(chǎn)品,故只能以我司產(chǎn)品進行驗證)。

        備注:所測試產(chǎn)品無地線,L+PE,N+PE測試電壓為±2000V免測

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        圖4:SURGE測試電阻損壞

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        圖5:客戶的BOM

        經(jīng)以L+N測試電壓為±1000V標準測試,均可通過,為檢驗此電阻耐受性,把測試電壓調(diào)高一倍,-2000V可通過,+2000V約35秒即損壞,具體可看以下影像資料(負載燈熄滅時,電阻已損壞,可看圖4)

        因1/2W 47歐 R-KNP類型的電阻(如圖4)在實際產(chǎn)品生產(chǎn)測試中可能由于接觸不良造成打火,以致有個別損壞,故把損壞的1/2W 100歐 R-MOF電阻換成1/2W 47歐 R-KNP電阻進行實驗驗證,以±2000V測試,也可通過,由此可大概判斷,同一機種在相同的測試條件下,R-KNP電阻耐受性要好于R-MOF電阻,在防浪涌電路設(shè)計中R-MOF電阻看來非首選。

        最后再強調(diào)一下,以上測試均為我司實驗室測試,SURGE測試標準僅代表我司實驗室測試標準,大家不應(yīng)以此作為自己產(chǎn)品測試標準依據(jù),若以我司此標準測試,所造成的后果需自我承擔。

        繞線電阻和金屬膜電阻的區(qū)別

        金屬膜電阻:是在真空中加熱合金,合金蒸發(fā),使瓷棒表面形成一層導電金屬膜。改變金屬膜的厚度可以控制阻值。這種電阻和碳膜電阻相比: 體積小、噪音低、穩(wěn)定性好,但成本較高,金屬膜電阻色彩亮麗,又可細分為高頻、高壓、精密的多種類型。多應(yīng)用在精度要求較高的場合。

        線繞電阻: 線繞電阻器阻值精確、工作穩(wěn)定、溫度系數(shù)小、耐熱性能好、耐高壓沖擊、短時間過負載性能好、散熱快、功率較大但其電阻值較小,分布電感和分布電容較大,制作成本也較高。適用于低頻且精確度要求高的電路。

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        R-KNP繞線電阻檢測規(guī)范

        再次感謝旺旺兄提供的案例!

        分享一些踩坑案例給大家,大家有遇到類似的情況也可以分享給芯片之家。關(guān)于電子軟硬件的學習,希望大家enjoy!您的點贊轉(zhuǎn)發(fā)就是我繼續(xù)創(chuàng)作的最佳動力!


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