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        博客專欄

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        電子元器件真?zhèn)螜z測

        發(fā)布人:新陽檢測 時間:2022-09-26 來源:工程師 發(fā)布文章
        引 言

        受到疫情等多重因素的影響,這幾年關于芯片的信息一波又一波地席卷而來。從“芯片短缺”到如何識別芯片的真?zhèn)?,如今市場上不少人為“芯”瘋狂。隨著“芯片”熱潮的不斷涌起,關于電子元器件真?zhèn)舞b別的問題也隨之浮出海面。

        說到芯片真?zhèn)舞b別,這一直是困擾市場許久的問題。其實不只是芯片,電子元器件的假冒偽造問題同樣嚴峻。鑒于此形勢,本篇文章以實際案例——鑒別芯片入手,分享了面對電子元器件的真?zhèn)舞b別,我們可以采取哪些檢測手段。


        主要對象

        電子元器件(SMD、分立器件、IC)


        檢測標準
        • AS6081 (Aerospace standard) 電子元器件欺詐/假冒檢測/評估方法

        • GJB 548B-2005 微電子器件試驗方法和程序


        應用范圍
        • 電子元器件選型鑒別

        • 市場采購料真?zhèn)?可靠性驗證

        • 電子物料失效排查


        測試項目 AS6081檢測項目


        案例分享
        芯片真?zhèn)舞b別檢測


        說明:正常品外觀圖。


        外部目檢


        說明:外觀上存在明顯異常,有異物附著、印字模糊現(xiàn)象存在;芯片樣品印字標記批號、日期與包裝標簽上的不一致。


        X-RAY


        正常品X-RAY圖示


        異常品X-RAY圖示

        線距不同

        飛線交叉飛線錯位


        說明:芯片內部結構不一致。內部飛線狀態(tài)與鍵合點位置表現(xiàn)異常。


        標記和翻新的檢查



        說明:經過異丙醇+礦物酒精溶劑試驗后,擦拭棉棒變黑,印字無明顯變化。



        說明:經過丙酮溶劑試驗后,擦拭棉棒變黑,表面印字模糊。


        開封內部檢查



        說明:晶圓表面有品牌Logo及印字標記,內部鍵合線結構存在明顯差異。


        檢測結果


        基于檢測標準、芯片規(guī)格書判斷,該樣品芯片不符合正品特征。綜合判斷該材料為翻新品。


        新陽檢測中心有話說:


        本篇文章介紹了電子元器件真?zhèn)螜z測。如需轉載本篇文章,后臺私信獲取授權即可。若未經授權轉載,我們將依法維護法定權利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

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        最后,如您有相關檢測需求,歡迎咨詢。


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