位填充 文章 進(jìn)入位填充技術(shù)社區(qū)
應(yīng)用混合游程編碼的SOC測試數(shù)據(jù)壓縮方法
- 提出了一種有效的基于游程編碼的測試數(shù)據(jù)壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應(yīng)解碼電路硬件開銷小的突出特點(diǎn). 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測試數(shù)據(jù)中不確定位的填充策略有很大的關(guān)系
- 關(guān)鍵字： SoC測試 數(shù)據(jù)壓縮 位填充 游程編碼
位填充導(dǎo)致USB數(shù)據(jù)傳輸紊亂的一種解決方案
- 通用串行總線(USB)數(shù)據(jù)傳輸中要對數(shù)據(jù)進(jìn)行非歸零翻轉(zhuǎn)(NRZI)編解碼、添加／去除位填充和串并／并串轉(zhuǎn)換。添加／去除位填充使每字節(jié)數(shù)據(jù)傳輸所需的時(shí)間發(fā)生變化，再加上收發(fā)器與協(xié)議層的時(shí)鐘頻率不同，從而可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)紊亂。以USB 2．0設(shè)備控制器中的收發(fā)器為例，在收發(fā)器與協(xié)議層間添加異步先入先出存儲器(FIFO)作為緩存區(qū)可以解決這一問題。EDA軟件仿真驗(yàn)證了該方法的可行性。
- 關(guān)鍵字： 通用串行總線 數(shù)據(jù)傳輸 位填充 異步先入先出存儲器 數(shù)據(jù)紊亂
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