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        NI推出6款用于NI CompactRIO及NI CompactDAQ平臺的I/O模塊
        
                                                            
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日針對NI CompactRIO嵌入式控制系統(tǒng) 和 NI CompactDAQ模塊化數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)推出了6款全新的C系列模塊。通過擴(kuò)展C系列平臺, NI為工程師和科學(xué)家提供全新升級的用于廣泛嵌入式控制、監(jiān)測和數(shù)據(jù)采集的各種選項(xiàng)。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  測量平臺  嵌入式                          
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        在無人機(jī)制導(dǎo)、導(dǎo)航與控制中應(yīng)用半實(shí)物仿真
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • “使用NI PXI，我們能夠在實(shí)時狀態(tài)下以低延時完成復(fù)雜的無人機(jī)模型仿真，并完美地模擬了航空設(shè)備界面?！?/li>
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        NI  HIL  LabVIEW                          
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        使用LabVIEW、PXI、DAQ和DIAdem搭建聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • “我們使用NI LabVIEW軟件和NI PXI數(shù)據(jù)采集硬件開發(fā)聲納導(dǎo)流罩監(jiān)測系統(tǒng)來采集、處理所有的相關(guān)板載數(shù)據(jù)，并使用NI DIAdem搭建了一個后處理系統(tǒng)?！?/li>
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        NI  監(jiān)測系統(tǒng)  LabVIEW                          
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        Qualcomm使用NI VST進(jìn)行802.11ac測試，改進(jìn)測試速度和范圍
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 就傳統(tǒng)儀器而言，每次測試大約會取得40個重要的WLAN收發(fā)器數(shù)據(jù)點(diǎn)。 NI PXI矢量信號收發(fā)儀的測試速度非?？欤虼四軋?zhí)行完整的增益表掃頻，進(jìn)而采集共300,000個數(shù)據(jù)點(diǎn)。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  Qualcomm  測試  FPGA                          
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        NI參加2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱NI)于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會。NI在此研討會上發(fā)表了題為"重新定義移動通信測試——從研發(fā)驗(yàn)證到制造測試"的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏被評為"企業(yè)演講最佳演講人"。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  TD-LTE  通信                          
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        NI PXI矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀助半導(dǎo)體移動設(shè)備制造商降低測試成本
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布了NI NI PXIe-5632 VNA，它經(jīng)進(jìn)一步優(yōu)化，可幫助工程師滿足日益復(fù)雜的射頻測試要求，而其成本、尺寸和使用所需時間僅是傳統(tǒng)堆疊式解決方案的極小一部分。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  分析儀  PXIe-5632                          
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        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  TestStand  測試系統(tǒng)                          
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        儀器 ? 變革進(jìn)行時
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 由美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)舉辦的“NIDays全球圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)盛會”中國站于11月16日在北京萬達(dá)索菲特大飯店圓滿落幕。今年的NIDays以“儀器 ? 變革進(jìn)行時”為主題，向近千位來自不同行業(yè)的工程師和二十多家行業(yè)媒體全方位展示了NI在推動測試測量、控制和設(shè)計(jì)領(lǐng)域及創(chuàng)新技術(shù)應(yīng)用方面一直所做的努力。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  測試測量  嵌入式                          
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        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動化測試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動化測試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測試中同時進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  自動化測試                          
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        NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • NI TestStand 2012采用全新的模塊化框架，能夠簡化自動化測試的開發(fā)和報(bào)告生成。NI TestStand 2012包含新的異步數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告生成方法，適用于并行測試，還能夠提升測試吞吐量。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  測試                          
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        復(fù)雜的汽車電子系統(tǒng)需要高效的測試解決方案
        
                                                            
          
                    	
        • 美國國家儀器公司(NI)在汽車電子領(lǐng)域已經(jīng)耕耘了多年，在半導(dǎo)體技術(shù)與汽車融合的大趨勢下，他們有哪些舉措呢?為此，我們采訪了NI公司汽車電子方面的產(chǎn)品經(jīng)理Noah Reading，聽他來講述NI公司在汽車電子方面的解決之道。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  ECU  汽車電子                          
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        LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件對數(shù)字開發(fā)的影響
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 長期以來的預(yù)測趨勢揭示了整個系統(tǒng)設(shè)計(jì)流程中的設(shè)計(jì)和測試趨于統(tǒng)一，這兩個先前獨(dú)立的功能將被集成在一起。集成功能的明顯優(yōu)勢在于縮短了投入市場的時間并獲得更好的整體質(zhì)量，而這些優(yōu)勢都?xì)w功于在創(chuàng)建設(shè)計(jì)的同時集成了測試定義和實(shí)現(xiàn)。在系統(tǒng)設(shè)計(jì)過程中，從仿真到實(shí)現(xiàn)以及最終系統(tǒng)部署，都可以對這些早期測試平臺進(jìn)行重用。
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        • 關(guān)鍵字：
                        NI  LabVIEW  FPGA                          
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        整合高性能儀器和FPGA 實(shí)現(xiàn)最佳WLAN測量
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 在下一代無線局域網(wǎng)白皮書中已經(jīng)討論了最新的802.11標(biāo)準(zhǔn)存在的一些問題。眾所周知，測試工程師都想盡快找到測試該標(biāo)準(zhǔn)的測試設(shè)備。大多數(shù)測試工程師發(fā)現(xiàn)使用最佳性能的昂貴盒式儀器的傳統(tǒng)方法已經(jīng)無法適用于該情況。出現(xiàn)該問題的原因十分簡單：測試工程師急需各種資源，主要包括時間、預(yù)算和空間。
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                        NI  FPGA  WLAN                          
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        NI提供802.11ac WLAN和低耗電藍(lán)牙技術(shù)測試解決方案
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 全新發(fā)布的針對802.11ac WLAN以及低耗電藍(lán)牙(BLE)技術(shù)測試的NI解決方案集成了NI WLAN測量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信號收發(fā)儀(VST)以及NI LabVIEW，可以幫助搭建高性能、基于軟件設(shè)計(jì)的測試系統(tǒng)。
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                        NI  FPGA  WLAN                          
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        NI LabWindows/CVI 2012加速測試測量應(yīng)用程序的開發(fā)
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • NI LabWindows/CVI 2012，是用于測試測量應(yīng)用的ANSI C集成開發(fā)環(huán)境(IDE)的一個重要的升級更新，它增添了許多全新工具包并包含了許多經(jīng)過改善-了的工具包，能夠幫助工程師更加快速地開發(fā)他們的系統(tǒng)。
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                        NI  LabWindows/CVI  測試測量                          
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		      			      	NI資源中心
		      			      			      	美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）致力于為測試測量、自動化和嵌入式應(yīng)用領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家們帶來革命性的理念，從"虛擬儀器技術(shù)"提升到"圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)"，幫助他們實(shí)現(xiàn)更高效和優(yōu)化的設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布。NI為遍布全球各地的25000家不同的客戶提供現(xiàn)成即用的軟件（如NI LabVIEW圖形化開發(fā)平臺），和高性價比的模塊化硬件。NI總部設(shè)在美國德克薩斯州的奧斯汀，		      	[ 查看詳細(xì) ]
		      			      	
        
    		
        
  		
        
  		  		
  		  		  		
  		  		  		
  		  		  		
  		  		  		
  		            
        		  		
  		  		
        
    		
        
      			
        
        			
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