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        【測試解讀】ESD保護設計中的傳輸線脈沖TLP，怎么測？
        
                                                            
          
                    	
        • 隨著電子器件在汽車和其他產(chǎn)品上的應用越來越廣泛（智能化），芯片的集成度也越來越高、體形也越來越小、研發(fā)的難度也越來越高，這些器件通常具有線間距短、線細、集成度高、運算速度快、功耗低和高輸入阻抗的特點，這也導致了這類器件對靜電的要求越來越高。其中涉及到的標準為：ESD SP5.5.1-2004、ISO7637-2、GB/T.21437.2、ECER10.05 6.9、IEC62615:2010。其中在很多器件的ESD性能，都會使用TLP 測試，除了使用標準的TLP脈沖發(fā)生器之外，還需要使用示波器對其脈沖進行
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        • 關鍵字：
                        ESD  TLP                          
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        如何測試ESD保護設計中的傳輸線脈沖TLP
        
                                                            
          
                    	
        • 隨著電子器件在汽車和其他產(chǎn)品上的應用越來越廣泛（智能化），芯片的集成度也越來越高、體形也越來越小、研發(fā)的難度也越來越高，這些器件通常具有線間距短、線細、集成度高、運算速度快、功耗低和高輸入阻抗的特點，這也導致了這類器件對靜電的要求越來越高。其中涉及到的標準為：ESD SP5.5.1-2004、ISO7637-2、GB/T.21437.2、ECER10.05 6.9、IEC62615:2010。其中在很多器件的ESD性能，都會使用TLP 測試，除了使用標準的TLP脈沖發(fā)生器之外，還需要使用示波器對其脈沖進行
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        • 關鍵字：
                        ESD  保護設計  傳輸線脈沖  TLP                          
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        帶有硅化物阻擋層的可控硅器件對維持電壓的影響*
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 基于0.18 μm雙極CMOS-DMOS（BCD）工藝，研究并實現(xiàn)了一種陽極和陰極兩側(cè)均加入硅化物阻擋層（SAB）的可控硅（SCR）器件，可用于高壓靜電放電保護（ESD）。利用二維器件仿真平臺和傳輸線脈沖測試系統(tǒng)（TLP），預測和驗證了SAB層對可控硅性能的影響。測量結(jié)果表明，在不增加器件面積的情況下，通過增加SAB層，器件的維持電壓（Vh）可以從3.03 V提高到15.03 V。與傳統(tǒng)SCR器件相比，帶有SAB層的SCR器件（SCR_SAB）具有更高的維持電壓。
          • 
                    	                        
        • 關鍵字：
                        可控硅（SCR）  硅化物阻擋層（SAB）  仿真  傳輸線脈沖測試系統(tǒng)（TLP）  維持電壓（Vh）  202109                          
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        利用TLP進行ESD保護元件的大電流性能鑒定
        
                                                            
          
                    	
        • Ashton 博士說在正常工作條件下，ESD 保護元件應該保持在不動作狀態(tài)，同時不會對電子系統(tǒng)的功能造成任何影響，這可以通過維持低電流以及足以在特定數(shù)據(jù)傳輸速率下維持數(shù)據(jù)完整性的低電容值來達成。而在ESD 應力沖擊或
          • 
                    	                        
        • 關鍵字：
                        TLP  ESD  保護  元件                            
          • 
                   	
        
                    
        
                
        
                                
        
                    
        利用屏幕截圖和TLP進行ESD保護元件的大電流性能鑒
        
                                                            
          
                    	
        • Ashton 博士說在正常工作條件下，ESD 保護元件應該保持在不動作狀態(tài)，同時不會對電子系統(tǒng)的功能造成任何影響，這可以通過維持低電流以及足以在特定數(shù)據(jù)傳輸速率下維持數(shù)據(jù)完整性的低電容值來達成。而在ESD 應力沖擊或
          • 
                    	                        
        • 關鍵字：
                        TLP  ESD  屏幕  保護                            
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	共5條
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