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低功耗制造性測試的設(shè)計-第二部分
- 假設(shè)設(shè)計的某個時鐘驅(qū)動了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開關(guān)動作超過設(shè)計的總體功率預(yù)算。我們不希望測試邏輯去改變?nèi)魏螘r鐘，相反我們將設(shè)計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數(shù)量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發(fā)器的模塊)的觸發(fā)器開關(guān)速率不超過總功率預(yù)算。從這方面講，可以認為分割將功率預(yù)算硬連(hardwire)進了設(shè)計。
- 關(guān)鍵字： ATPG 數(shù)字電路設(shè)計 SoC DFT
低功耗制造測試的設(shè)計-第一部分
- 完全的數(shù)字電路測試方法通常能將動態(tài)功耗提高到遠超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預(yù)老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調(diào)試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規(guī)模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產(chǎn)線上出現(xiàn)不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設(shè)計(DFT)過程中結(jié)合可感測功率的測試技術(shù)。本文將首先介紹動態(tài)功耗與測試之間的關(guān)系，以說明為何功率管理現(xiàn)在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
- 關(guān)鍵字： ATPG DFT 數(shù)字電路測試
微捷碼向LogicVision提供ATPG技術(shù)授權(quán)
- 美國加州圣荷塞，芯片設(shè)計解決方案供應(yīng)商微捷碼（Magma®）設(shè)計自動化有限公司日前宣布，公司已向領(lǐng)先的半導體內(nèi)置自測（BIST）和診斷解決方案提供商LogicVision公司提供了自動測試向量生成（ATPG）技術(shù)的授權(quán)。通過這項協(xié)議，LogicVision公司將能夠更快拓展產(chǎn)品組合，為客戶提供更全面的可測性設(shè)計（DFT）功能以改善測試質(zhì)量、縮短納米IC設(shè)計周期并降低納米IC成本。此外，兩家公司還簽署了一份單獨協(xié)議
- 關(guān)鍵字： 微捷碼 BIST ATPG DFT IC
微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX
- 捷碼(Magma)設(shè)計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設(shè)計師能明顯改進測試質(zhì)量, 減少周轉(zhuǎn)時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設(shè)計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實現(xiàn)物理相關(guān)DFT(Physically Aware DFT™)的IC 實現(xiàn)流程。 今天芯片設(shè)計的復(fù)雜度和更小的尺寸使測試制作的IC更加復(fù)雜。新的失效機制不斷涌現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字： 消費電子 捷碼 ATPG ATPGX 消費電子
微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX
- 微捷碼(Magma)設(shè)計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設(shè)計師能明顯改進測試質(zhì)量, 減少周轉(zhuǎn)時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設(shè)計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實現(xiàn)物理相關(guān)DFT（Physically Aware DFT） 的IC 實現(xiàn)流程。 &n
- 關(guān)鍵字： 消費電子 微捷碼 Talus ATPG DFT MCU和嵌入式微處理器
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