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        晶體硅電池組件EL缺陷分析
        
                                                            
          
                    	
        • :EL檢測儀，又稱太陽能組件電致發(fā)光缺陷檢測儀，是跟據(jù)硅材料的電致發(fā)光原理對組件進行缺陷檢測及生產(chǎn)工藝監(jiān)控的專用測試設(shè)備。給晶體硅電池組件正向通入1-1.5倍Isc的電流后硅片會發(fā)出1000-1100nm的紅外光，測試儀下
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        • 關(guān)鍵字：
                        缺陷  分析  EL  組件  電池  晶體                          
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        LED照明產(chǎn)品檢測中的缺陷及改善
        
                                                            
          
                    	
        •  一、 序言LED 照明產(chǎn)業(yè)發(fā)展到現(xiàn)在,我們對LED 照明產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)和檢測方法的回顧、小結(jié)的時候已經(jīng)基本到來。傳統(tǒng)的 LED 及其模塊光、色、電參數(shù)檢測方法有電脈沖驅(qū)動,CCD 快速光譜測量法,也有在一定的條件下,熱平衡后的測
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        LED  照明產(chǎn)品  檢測  缺陷                            
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        降低汽車用PCB缺陷率的六大方法
        
                                                            
          
                    	
        • 前言      汽車電子市場是繼電腦、通訊之后PCB的第三大應(yīng)用領(lǐng)域。隨著汽車從傳統(tǒng)意義上的機械產(chǎn)品，逐步演化、發(fā)展成為智能化、信息化、機電一體化的高技術(shù)產(chǎn)品，電子技術(shù)在汽車上的應(yīng)用已十分廣泛，無論是發(fā)動機系統(tǒng)
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        PCB  汽車  方法  缺陷                            
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        DLP拼接屏的技術(shù)缺陷
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • DLP拼接大屏作為大屏拼接領(lǐng)域的主力軍，一直被廣泛應(yīng)用于多個領(lǐng)域。而且，隨著技術(shù)的日漸完善以及人們大屏幕視覺需求的火熱，其應(yīng)用范圍更加寬泛，應(yīng)用環(huán)境也更加廣泛，隨著而來的選購維護問題也更加復(fù)雜。其實大屏作
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        • 關(guān)鍵字：
                        缺陷  技術(shù)  拼接  DLP                          
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        針對產(chǎn)品的缺陷，三相多功能電能表解決方案誕生
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 針對產(chǎn)品的缺陷，三相多功能電能表解決方案誕生,背景電能表是用來測量電能的儀表，又稱電度表，火表，電能表，千瓦小時表，指測量各種電學(xué)量的儀表。目前國內(nèi)的電能表設(shè)計已經(jīng)走過了由8位MCU向通用DSP甚至專用DSP的變革，通用DSP的應(yīng)用方案的劣勢在于DSP的專業(yè)應(yīng)用
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        • 關(guān)鍵字：
                        電能表  解決方案  誕生  多功能  三相  產(chǎn)品  缺陷  針對                          
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        缺陷對石墨烯電子結(jié)構(gòu)的影響
        
                                                            
          
                    	
        • 摘要 基于第一性原理計算方法，通過密度泛函理論(DFT)和廣義梯度近似(GGA)對本征及含有缺陷的石墨烯超晶胞進行了電子結(jié)構(gòu)的計算，研究了多種缺陷對石墨烯電子結(jié)構(gòu)的影響。研究發(fā)現(xiàn)，多種缺陷均使石墨烯能帶在費米能級
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        • 關(guān)鍵字：
                        影響  結(jié)構(gòu)  電子  石墨  缺陷                          
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        查找嵌入式軟件設(shè)計中的缺陷的方法
        
                                                            
          
                    	
        • 查找嵌入式軟件設(shè)計中的缺陷的方法,本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發(fā)現(xiàn)軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發(fā)項目依靠結(jié)合代碼檢查、結(jié)構(gòu)測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統(tǒng)技術(shù)非常重要，而且能發(fā)現(xiàn)大多
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        • 關(guān)鍵字：
                        缺陷  方法  設(shè)計  軟件  嵌入式  查找                          
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        LED芯片封裝缺陷檢測方案
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 摘要：LED(Light-emitting diode)由于壽命長、能耗低等優(yōu)點被廣泛地應(yīng)用于指示、顯示等領(lǐng)域?？煽啃?、穩(wěn)定性及高出光率是LED取代現(xiàn)有照明光源必須考慮的因素。

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        • 關(guān)鍵字：
                        檢測  方案  缺陷  封裝  芯片  LED                          
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        機器視覺在光纖端面缺陷檢測中的應(yīng)用
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 摘要：傳統(tǒng)的光纖端面缺陷檢測用的是人工檢測方式，這種檢測方式效率很低，檢測結(jié)果的主觀性很強。對光纖端面缺陷使用機器視覺檢測，能極大地提高檢測效率和檢測準(zhǔn)確性。首先將采集到的圖像通過圖像處理二值化，接著
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        • 關(guān)鍵字：
                        檢測  應(yīng)用  缺陷  光纖  視覺  機器                          
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        利用視覺系統(tǒng)來防止PCB缺陷的產(chǎn)生
        
                                                            
          
                    	
        • 1、前言　　在現(xiàn)代電子產(chǎn)品世界中，PCB(印刷電路板)是組成電子產(chǎn)品的重要環(huán)節(jié)，很難想象在一臺電子設(shè)備中有不采用PCB的，所以PCB的質(zhì)量如何將對電子產(chǎn)品能否長期正?？煽抗ぷ鲙矸浅４蟮挠绊?。提高 PCB的質(zhì)量是電子
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        PCB  視覺系統(tǒng)  防止  缺陷                            
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        基于骨架模板配準(zhǔn)的OLED顯示屏斑痕缺陷檢測技術(shù)
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 針對OLED顯示屏的自動化缺陷檢測問題，提出了一種新的檢測方法。首先，基于顯示屏的原圖像，提取其骨架信息，進行分塊處理后快速地與模板圖像配準(zhǔn)，通過差影法實現(xiàn)斑痕缺陷的初次提取。然后通過大津法確定圖像的閾值，將圖像分割并進行差影操作后，實現(xiàn)斑痕缺陷的檢測；最后，通過列舉的實例，驗證了本方法的有效性。
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        • 關(guān)鍵字：
                        斑痕  缺陷  檢測技術(shù)  顯示屏  OLED  骨架  模板  基于                          
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        藍(lán)色發(fā)光二極管晶片制備技術(shù)的一些缺陷
        
                                                            
                    
        
                
        
                                
        
                    
        查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的多種技術(shù)
        
                                                            
                                        
          
                    	
        • 查找嵌入式C語言程序/軟件中的缺陷的多種技術(shù),基于模式的靜態(tài)代碼分析、運行時內(nèi)存監(jiān)測、單元測試以及數(shù)據(jù)流分析等軟件驗證技術(shù)是查找嵌入式C語言程序/軟件缺陷行之有效的方法。上述技術(shù)中的每一種都能查找出某一類特定的錯誤。即便如此，如果用戶僅采用上述技術(shù)
          • 
                    	                        
        • 關(guān)鍵字：
                        多種  技術(shù)  缺陷  軟件  嵌入式  語言程序  查找                          
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        淺析PCB電鍍純錫缺陷
        
                                                            
          
                    	
        • 　　一、前言 

          　　在線路板的制作過程中，多數(shù)廠家因考慮成本因素仍采用濕膜工藝成像，從而會造成圖形電鍍純錫時難免出現(xiàn)“滲鍍、亮邊(錫薄)”等不良問題的困擾，鑒于此，本人將多年總結(jié)出的鍍純錫工藝
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        • 關(guān)鍵字：
                        PCB  電鍍  錫  缺陷                            
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        嵌入式軟件技術(shù)的缺陷查找方法
        
                                                            
          
                    	
        • 嵌入式軟件技術(shù)的缺陷查找方法,　　本文將介紹如何避免那些隱蔽然而常見的錯誤，并介紹的幾個技巧幫助工程師發(fā)現(xiàn)軟件中隱藏的錯誤。大部分軟件開發(fā)項目依靠結(jié)合代碼檢查、結(jié)構(gòu)測試和功能測試來識別軟件缺陷。盡管這些傳統(tǒng)技術(shù)非常重要，而且能發(fā)現(xiàn)
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        • 關(guān)鍵字：
                        方法  查找  缺陷  軟件技術(shù)  嵌入式                          
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