測試線路 文章 進(jìn)入測試線路技術(shù)社區(qū)
可控硅dIT/dt測試線路的設(shè)計(jì)與測量
- 該測試線路是在傳統(tǒng)的相位控制電路的基礎(chǔ)上增加了兩個(gè)配置，利用該線路當(dāng)可控硅的控制端觸發(fā)導(dǎo)通時(shí)可產(chǎn)生一個(gè)高的上升和下降斜率的電流波通過可控硅的T1和T2，從而可以測量電流的變化率，當(dāng)可控硅的電特性(靜態(tài)參數(shù))發(fā)生變化時(shí)說明該器件已經(jīng)受損，此前測量的dIT/dt值即為該可控硅能承受的最大導(dǎo)通電流變化率。
- 關(guān)鍵字： 測試線路 可調(diào)電阻
| 共1條 1/1 1 |
測試線路介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條測試線路!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試線路的理解，并與今后在此搜索測試線路的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對測試線路的理解，并與今后在此搜索測試線路的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473