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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試測量

        測試系統(tǒng)開關(guān)技術(shù)(05-100)

        •   設(shè)計完善的開關(guān)系統(tǒng)至少應(yīng)具備3個子系統(tǒng):計算機控制與處理、測量儀表和開關(guān)。只要再增加DUTC(被測設(shè)備)電源和DUT負(fù)載就構(gòu)成完整的功能測試設(shè)備。無可爭辯的是,開關(guān)子系統(tǒng)是測試系統(tǒng)的心臟,因為所有其它子系統(tǒng)是測試系統(tǒng)的心臟,因為所有其它子系統(tǒng)都要與它接口。因此,對它有一個全面的、正確的了解是十分必要的。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  開關(guān)系統(tǒng)  P580  

        JTAG測試(05-100)

        •   現(xiàn)在,邊界掃描技術(shù)可用于以器件為中心方式的測試中,使得在開發(fā)、調(diào)試和生產(chǎn)測試環(huán)境中采用JTAG(聯(lián)合測試行動組)測試技術(shù)。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  JTAG  聯(lián)合測試行動組  XJTAG  

        邊界掃描與處理器仿真測試(05-100)

        •   當(dāng)前,PCB是越來越復(fù)雜,不言而喻,想要獲得滿意的測試覆蓋范圍也更困難了。而且每種測試方法都有其固有的局限性。于是,測試工程師們不得不另辟蹊徑,將幾種技術(shù)組合起來以達(dá)到他們所要求的測試覆蓋范圍。這正是IEEE 1149.1邊界掃描(俗稱JTAG)和微處理器仿真測試所追求的。邊界掃描和處理器基仿真測試有各自的應(yīng)用領(lǐng)域,每種技術(shù)都能達(dá)到某種程度的測試覆蓋范圍。然而將兩種技術(shù)無縫地組合在一起,就有可能達(dá)到更高的總測試覆蓋范圍,是任何一種單獨技術(shù)無法比擬的。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  邊界掃描  處理器  

        嵌入式邊界掃描(05-100)

        •   邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  IEEE1149.1  

        用LXI構(gòu)建合成儀器(05-100)

        •   合成儀器(SI)由模塊化組件構(gòu)建并啟用高速處理器和近代總線技術(shù),有望給測試用戶帶來更多的功能與靈活性,較低廉的總成本、更高速操作、更小的物理占用面積以及較長的使用壽命。然而,生產(chǎn)廠家和用戶共同面臨的一個問題是缺乏統(tǒng)一的,能滿足體系結(jié)構(gòu)和商品化要求的設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)。PXI和VXI模塊儀器是這類應(yīng)用的最佳候選,但對SI設(shè)計人員亦有諸多限制,最終形成具有專用接口與控制模塊包裝的混合系統(tǒng)。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  SI  LXI  

        新一代開放式儀器接口標(biāo)準(zhǔn)LXI(05-100)

        •   在推動電子測量儀器技術(shù)發(fā)展過程中,從70年代初至2000年代初的三十多年中,先后出現(xiàn)GPIB(通用儀器總線,IEEE488標(biāo)準(zhǔn))、VXI(VME總線的儀器擴展,IEEE1515標(biāo)準(zhǔn))和PXI(PCI總線的儀器擴展)三種開放式儀器總線,2005年9月LXI聯(lián)盟發(fā)布LXI(LAN的儀器擴展)標(biāo)準(zhǔn)1.0版本,標(biāo)志著測量儀器的新一代開放總線標(biāo)準(zhǔn)的到來。LXI標(biāo)準(zhǔn)繼承前面三種開放式總線的優(yōu)點,在局域網(wǎng)標(biāo)準(zhǔn)(IEEE802.3)基礎(chǔ)上增加測量儀器系統(tǒng)所需的功能,擴展成為性能強大的結(jié)構(gòu)靈活的開放式平臺,LXI聯(lián)盟發(fā)
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  LXI  

        下一代自動測試系統(tǒng)與合成儀器的發(fā)展(05-100)

        •   合成儀器是有望革新測試產(chǎn)品的新型測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)體系,業(yè)已被業(yè)內(nèi)人士逐漸認(rèn)同。   合成儀器這個術(shù)語首先是美國國防部(DoD)下一代自動測試系統(tǒng)(NxTest)集成產(chǎn)品組使用的,用來描述該研制組竭力主張的新型測試結(jié)構(gòu)體系。2002年4月,DoC自動測試系統(tǒng)(ATS)執(zhí)行代理辦公室(EAO)正式成立NxTest IPT,由海、陸、空三軍代表組成。主要目標(biāo)有兩個:降低DoD ATS的采購和支撐成本;改進軍事服務(wù)“ATS功能”的內(nèi)、外合作。
        • 關(guān)鍵字: 測試測量  自動測試系統(tǒng)  合成儀器  

        WLAN 信號發(fā)生和分析測試測量解決方案

        • 2820 型矢量信號分析儀和 2920 型矢量信號發(fā)生器具有最高 6GHz 的連續(xù)頻率覆蓋范圍和 40MHz 標(biāo)準(zhǔn)帶寬,支持 SISO (單入單出)和 MIMO(多入多出)結(jié)構(gòu),是 WLAN 研發(fā)測試的理想選擇。吉時利的 WLAN 測量方案具有十分全面
        • 關(guān)鍵字: WLAN  信號發(fā)生  分析  測試測量    

        NI發(fā)布2009年測試與測量發(fā)展趨勢

        •   軟件定義的儀器系統(tǒng)將是本年度最重要的儀器發(fā)展趨勢,用以提升性能和降低成本   2009年1月,如今全球經(jīng)濟現(xiàn)狀對于預(yù)算成本有著嚴(yán)格的限制,測試工程師現(xiàn)今面臨的挑戰(zhàn)將是如何尋找更高效的測試方法。美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡稱NI),作為全球測試測量行業(yè)的領(lǐng)導(dǎo)者,指出2009年將極大改進測試測量系統(tǒng)效率的三大趨勢——軟件定義的儀器系統(tǒng),并行處理技術(shù)以及無線和半導(dǎo)體測試新方法。它們將幫助工程師在減少測試總成本的條件下,開發(fā)更快、更靈活的自動化測
        • 關(guān)鍵字: NI  測試測量  

        WiMAX的普及推動測試分析新方案發(fā)展

        電信級以太局域網(wǎng)測試技術(shù)的研究概述

        EnergyBench 評估嵌入式處理器功耗的工具

        ARM7與FPGA在工控和故障檢測中的應(yīng)用

        2009年1月13日,泰克在上海成立的測試測量方案中心正式開幕

        •   2009年1月13日,泰克在上海最新成立的測試測量方案中心正式開幕。
        • 關(guān)鍵字: 泰克  測試測量  

        VNA網(wǎng)絡(luò)分析儀實現(xiàn)長延時器件的測量

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        測試測量介紹

        電子測試測量儀器:示波器(數(shù)字、模擬、手持式)、信號發(fā)生器(任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻)、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐   表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……   通信測試測量儀器:光時域反射儀(OTDR)、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試   儀、電纜故障測 [ 查看詳細(xì) ]

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