測試測量 文章 進入測試測量技術社區(qū)
S參數(shù)測量基礎- 入門
- 為什么使用 S參數(shù)？為什么要使用S參數(shù)這個問題經(jīng)常會被問到。其實在技術演進的過程不僅僅有S參數(shù)，但是最終科學家和工程師們發(fā)現(xiàn)使用S參數(shù)能更加方便地描述一個無源鏈路。從模擬的角度捕獲數(shù)字信號數(shù)字信號 vs.模擬信號數(shù)字信號 = 模擬信號 (包含正弦波）正弦波的變化 - 輸出是什么？什么是 S參數(shù)？S參數(shù)是一個復數(shù)矩陣，反映了在頻域范圍內(nèi)的反射信號 / 傳輸信號的特性（幅度/相位）。S參數(shù)表達式Smith Chart - 史密斯圓圖：更直觀地進行阻抗變換Smith Chart - 史密斯圓圖在某個頻率點，可以
- 關鍵字： 模擬電路 測試測量 S參數(shù)
DDR3單元測試規(guī)范
- 一、測試目的DDR3的測試分為三類：1、直流參數(shù)測試（DC Parameter Testing）：校驗工作電流、電平、功率、扇出能力、漏電流等參數(shù)特性。內(nèi)存的工作電流與功耗、負載有關，工作電流過高時，將造成功耗過高，給系統(tǒng)造成的負載過大，嚴重情況下將造成系統(tǒng)無法正常工作。存儲芯片也存在漏電流，當漏電流超出閾值時可能造成系統(tǒng)無法正常工作。2、交流參數(shù)測試（AC Parameter Testing）：檢測諸如建立時間、保持時間、訪問時間等時間參數(shù)特性。3、可靠性測試（Functional Testing）：測
- 關鍵字： 內(nèi)存 DDR3 測試測量
面向現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心的測試和測量
- 在現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心中，需要應對的更棘手的問題之一是通過越來越多的高速鏈接進出數(shù)據(jù)。要測試這些高速鏈路和PCB，您需要像Rohde & Schwarz R&S ZNB 3000這樣的高端網(wǎng)絡分析儀。據(jù)說它是市場上最快的生產(chǎn)測試產(chǎn)品之一，具有非常低的本底噪聲。除了速度之外，R&S ZNB3000 矢量網(wǎng)絡分析儀還具有精度和多功能性，具有行業(yè)領先的動態(tài)范圍、快速的測量速度和可擴展的升級，可應對要求苛刻的應用。R&S RTP 高性能示波器是另一個有用的工具，將高級信號完整性與
- 關鍵字： 現(xiàn)代數(shù)據(jù)中心 測試測量
DC-DC導致EMI輻射超標案例
- 分享一個EMI整改文檔，對于EMC來說，接觸的案例越多，整改的成功率就越高，整改的方法也越多，從案例中吸取教訓，總結(jié)經(jīng)驗，避免設計中出現(xiàn)同樣的問題。注意：按照文檔描述，從下面兩張圖片可以看出470MHz和940MHz(二次諧波)左右，這兩個頻點的功率非常高，可能該產(chǎn)品是一款無線產(chǎn)品，對于主頻--有意輻射頻率來說是有豁免權的，所以只需要注意200MHz之前的頻段，由于頻譜超標帶寬較寬，可以肯定非時鐘、晶振輻射超標引起，幾乎肯定輻射源在電源了，不過最后的結(jié)果，電源部分雖然PASS了，但是后面又引起了其他的頻點
- 關鍵字： EMI測試 測試測量
升維打擊！用示波器排查CAN的各種錯誤幀
- 摘要：CAN的BusOff源于錯誤幀的積累，而錯誤幀這個東西，是一個接收節(jié)點 認為數(shù)據(jù)有誤 故意打斷通信，好讓發(fā)送節(jié)點感知到 并重發(fā)報文的設計。注意這里邊有個“我覺得你有病”的認知陷阱，讓CAN的診斷變得近似玄學。本文分享一種用CAN波形的幅度和脈寬信息來精確定位錯誤幀來源的方法，來自知乎的大燈。我們先從基礎的講起。CAN節(jié)點的電路一般如下圖所示，MCU內(nèi)置了CAN控制器用來將MCU的數(shù)據(jù)封裝為CAN幀格式，同時它也負責CAN幀的校驗和錯誤幀的處理。控制器封裝好的邏輯報文經(jīng)TX RX送到CAN收發(fā)器，將邏
- 關鍵字： CAN總線 測試測量 示波器
分析一個電磁兼容，無非從這幾個方面入手
- 如何分析一個電磁兼容的問題？分析一個電磁兼容的問題需要從三個方面入手：騷擾源敏感源耦合路徑找到這三個因素后，再決定去掉哪一個。只要去掉一個，電磁兼容的問題就解決了。例如，當騷擾源是雷電，敏感源是電子線路時，我們能做的就是消除耦合路徑（因為沒法去掉騷擾源，我們沒法讓自然界不產(chǎn)生雷電吧）。耦合路徑分為傳導耦合路徑和空間耦合路徑。最容易判斷的是電磁騷擾的敏感源，實際上大部分的電磁兼容的問題都是先從發(fā)現(xiàn)干擾的現(xiàn)象起因的，因此，最先關注的應該是敏感源。比較容易判斷的是電磁騷擾源，我們通過實驗和分析，可以確定導致電磁
- 關鍵字： 電磁兼容 信號調(diào)理 測試測量
關于EMC輻射發(fā)射整改一些心得體會
- 當一個產(chǎn)品無法通過EMI 測試﹐首先就要有一個觀念﹐找出無法通過的問題點﹐此時千萬不能有主觀的念頭﹐要在那些地方下對策。常常有許多有經(jīng)驗的 EMI 工程師﹐由于修改過許多相關產(chǎn)品﹐對于產(chǎn)品可能造成 EMI 問題的地方也非常了解﹐而習慣直接就下藥方﹐當然一般皆可能 非常有效﹐但是偶而也會遇到很難修改下來﹐最后發(fā)現(xiàn)問題的關鍵都是起行認為不可能的地方﹐之所以會種疏失﹐就是由于太主觀了。因此﹐不論產(chǎn)品特性熟不熟﹐我們都要逐一再確認一次﹐甚而多次確認。這是因為造成EMI 的問題往往是錯綜復雜﹐并非單一點所造成。故反
- 關鍵字： EMI測試 測試測量
優(yōu)化簡易PCB電路板的大規(guī)模測試，提高生產(chǎn)效率
- 摘要隨著各行業(yè)對高效完成大批量生產(chǎn)的需求日益增強，構(gòu)建穩(wěn)健的測試策略也變得至關重要。此篇是德科技署名文章旨在深入探討簡易電路板生產(chǎn)制造領域中適用的創(chuàng)新測試方法，力求在保障質(zhì)量的前提下，實現(xiàn)生產(chǎn)效率的最優(yōu)化。本文探討了制造商在PCBA（印刷電路板組件）電路板批量測試環(huán)節(jié)中所面臨的種種挑戰(zhàn)，并揭示了創(chuàng)新技術如何重塑電子制造業(yè)的格局。文章通過聚焦前沿測試方法、先進測試裝備及經(jīng)過優(yōu)化的精簡測試流程，系統(tǒng)闡述了促使PCBA測試理念革新的核心要素。通過這些改進，制造商有望提升測試效率、節(jié)約時間與成本、提高工作效率、提
- 關鍵字： PCB 電路設計 測試測量
測試測量介紹
電子測試測量儀器：示波器（數(shù)字、模擬、手持式）、信號發(fā)生器（任意波、調(diào)頻調(diào)幅、音頻、射頻）、頻率計、電源、臺式萬用表、頻譜分析儀、毫伏表、微歐
表、鉗表、功率表、LCR、IC測試儀、耐壓/絕緣測試儀……
通信測試測量儀器：光時域反射儀（OTDR）、光纖熔接機、光萬用表、光源、光電話、光功率計、2M測試儀、協(xié)議分析儀、無線電綜合測試儀、數(shù)字電纜分析測試
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