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        EEPW首頁 >> 主題列表 >> 測試平臺

        支持高性能混合信號測試平臺

        • 憑借這些技術優(yōu)勢,PXI儀器系統(tǒng)使得各種應用獲益匪淺,其中包括RF與通信測量、混合信號ASIC表征、信號情報和數(shù)字視頻測試等而且,雖然PXI平臺業(yè)已提供了所有這些技術優(yōu)勢,但是PXI Express通過利用PCIe總線大幅提高吞吐量,顯著改進了該平臺的性能因而,您可以創(chuàng)建高精度的自動化測試系統(tǒng),與以往系統(tǒng)相比,該系統(tǒng)不僅測試時間更短,而且測試能力也更為強大
        • 關鍵字: 性能  混合信號  測試平臺    

        泰克通信公司推出全新平臺提升核心網(wǎng)測試效率

        •   泰克通信公司日前為Spectra2協(xié)議測試產(chǎn)品線推出Spectra2u 核心網(wǎng)測試平臺。Spectra2u 基于Intel  Dual Quad Core 處理架構,使得網(wǎng)絡設備制造商和電信運營商可以測試NGN、VoIP和融合網(wǎng)絡的功能、一致性、工作性能和媒體質(zhì)量,這一切都在一個大容量多用戶測試平臺上完成。Spectra2u 以低成本支持IP和TDM接口的信令及媒體測試。   “Spectra2u 
        • 關鍵字: 泰克  測試平臺  通信  

        基于VC++雷達信號系統(tǒng)軟件測試平臺的設計

        • 隨著電子計算機技術及電子設備的飛速發(fā)展,人們對數(shù)據(jù)的處理容量、處理速度以及工作平臺的實時監(jiān)控等性能的要求越來越高,從而使得高速、便捷、智能化的高性能數(shù)字處理設備成為當今電子設備的發(fā)展趨勢。
        • 關鍵字: VC  雷達信號  測試平臺  系統(tǒng)軟件    

        基于虛擬儀器的新型汽車電子測試平臺研究

        • 摘要: 針對汽車電子的測試要求的日益增高,本文介紹了一種基于虛擬儀器的測試平臺,可以極大地方便汽車電子產(chǎn)品的測試。
          關鍵詞: 虛擬儀器;汽車測試;LabVIEW;PXI 隨著半導體及軟件技術的快速發(fā)展,汽車電子
        • 關鍵字: 虛擬儀器  汽車電子  測試平臺    

        采用合適的負載平臺測試燃料電池系統(tǒng)

        快速分析儀器可望加快3G手機測試

        TekExpress一致性自動測試平臺簡介

        • 串行數(shù)據(jù)速率的穩(wěn)步提升,要求嚴格的標準和更先進的一致性測試解決方案。
        • 關鍵字: TekExpress  自動  測試平臺    

        基于LabVIEW和PXI的轉(zhuǎn)向架測試平臺

        • 在城市軌道車輛轉(zhuǎn)向架測試中,需要測量大量的應變、電壓和加速度等信號,這不僅要求數(shù)據(jù)的高速實時采集而且也要設備具有很高的穩(wěn)定性和可靠性。使用美國National Instruments 高效可靠的PXI 總線設備和LabVIEW 快速圖形開發(fā)環(huán)境,快速建立起的多功能轉(zhuǎn)向架測試平臺。實踐應用證明,完全達到了系統(tǒng)設計時的各項要求。
        • 關鍵字: LabVIEW,PXI,測試平臺  

        安捷倫發(fā)布其高清晰多媒體接口(HDMI)測試平臺的擴展解決方案

        • 安捷倫科技發(fā)布其高清晰多媒體接口(HDMI)測試平臺的擴展解決方案,以降低開發(fā)成本和提供精確的測試結果。該解決方案針對4個方面:Source Testing(源設備測試)、Sink testing(接收設備測試)、傳輸介質(zhì)的物理層評估和協(xié)議測試。 Agilent 擴展的 HDMI 測試平臺包括E4887A HDMI TMDS 信號發(fā)生器平臺, 它能針對組合的或分離的抖動容限一致性測試或特性測試提供靈活的配置。 Agi
        • 關鍵字: 測試  測量  安捷倫  HDMI  測試平臺  

        安捷倫自動制造測試平臺贏得雷神千萬美元大單

        • 安捷倫科技公司日前宣布,贏得雷神公司(美國亞利桑那州圖森市)價值1260萬美元的合同,為其提供先進的新一代自動制造測試平臺。雷神公司希望利用這個新平臺能夠縮短測試周期、提高測試設備利用率、減少測試工作量。 雷神公司最初將使用此系統(tǒng)對導彈制導系統(tǒng)中的元器件進行性能測試和故障診斷,同時逐步擴充系統(tǒng)以滿足新的要求和新的測試策略,從而進一步減少測試的總體成本。 這個項目集雙方專業(yè)技術之大成,是兩家公司精誠合作的結果?!袄咨衽c安捷倫通過此類合作創(chuàng)新,全力幫助我們改進生產(chǎn)測試方法。”美國雷神導彈系統(tǒng)公司總裁Louis
        • 關鍵字: 安捷倫  測試平臺  雷神  消費電子  測試測量  消費電子  

        泰克DSA70000示波器和P7500探頭構成高速串行數(shù)據(jù)測試平臺的核心

        •   泰克推出新的 DSA70000 系列實時數(shù)字串行分析儀(DSA)和 P7500 探頭,這兩款新面世的產(chǎn)品將以其世界領先的測試性能為新一代高速串行數(shù)據(jù)應用標準(如 PCI-Express 2.0、HDMI 1.3 和 SATA III)的開發(fā)提供最有力的支持。這兩款新品與泰克公司最近推出的 DSA8200 采樣示波器和 AWG7000 信號發(fā)生器一起組成了一套完整測
        • 關鍵字: DSA70000  P7500  測量  測試  測試平臺  高速串行  核心  示波器  數(shù)據(jù)  泰克  探頭  

        無線自組織網(wǎng)絡測試平臺設計與實現(xiàn)

        • 清華大學電子工程系微波與數(shù)字通信國家重點實驗室(100084)鐘曉峰 楊 帆 王有政 梅順良 王 京    摘 要:設計并建立了一個無線自組織網(wǎng)絡測試平臺系統(tǒng)——TATbed(Tsinghua Ad hoc network Test bed)。通過開發(fā)底層網(wǎng)卡驅(qū)動、路由算法協(xié)議模塊,使得普通PC機成為獨立的自組織網(wǎng)絡終端;同時通過監(jiān)測、統(tǒng)計多個終端之間的數(shù)據(jù)傳輸狀況獲得網(wǎng)絡的實測性能指標。目前平臺中已經(jīng)實現(xiàn)對多種路由算法協(xié)議的測試支持。   關鍵詞:自組織網(wǎng)絡 測試平臺 路由算法   多跳自
        • 關鍵字: 測試平臺  路由算法  自組織網(wǎng)絡  

        無線自組織網(wǎng)絡測試平臺設計與實現(xiàn)

        •   摘 要:設計并建立了一個無線自組織網(wǎng)絡測試平臺系統(tǒng)——TATbed(Tsinghua Ad hoc network Test bed)。通過開發(fā)底層網(wǎng)卡驅(qū)動、路由算法協(xié)議模塊,使得普通PC機成為獨立的自組織網(wǎng)絡終端;同時通過監(jiān)測、統(tǒng)計多個終端之間的數(shù)據(jù)傳輸狀況獲得網(wǎng)絡的實測性能指標。目前平臺中已經(jīng)實現(xiàn)對多種路由算法協(xié)議的測試支持。    多跳自組織網(wǎng)絡(Ad hoc network)由多個獨立的具有路由(交換)功能的用戶通
        • 關鍵字: 測量  測試  測試平臺  路由算法  自組織網(wǎng)絡  

        AMD用Sapphire測試平臺做端對端測試系統(tǒng)

        • AMD Opteron™處理器采用的工作平臺能減少40%的測試時間,提升系統(tǒng)產(chǎn)能 科利登系統(tǒng)有限公司 (Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼:CMOS)宣布:AMD(超威半導體)選擇科利登的Sapphire™自動測試平臺做為其record測試系統(tǒng)。AMD全部的超級處理器測試將采用Sapphire平臺進行,包括工程驗證和特征分析測試及量產(chǎn)測試。通過先前不懈的合作和努力,Sapphire平臺最終采用了
        • 關鍵字: AMD  Sapphire  測試平臺  測試測量  

        AMD統(tǒng)一采用Sapphire測試平臺為測試系統(tǒng)

        •  AMD Opteron™處理器采用的工作平臺能減少40%的測試時間,提升系統(tǒng)產(chǎn)能    2006年2月9日,來自美國加州苗必達市(Milpitas)的消息,為世界半導體工業(yè)提供從設計到生產(chǎn)測試解決方案的領先供應商--科利登系統(tǒng)有限公司 (Credence Systems Corporation, 納斯達克代碼:CMOS)宣布:AMD(超威半導體)選擇科利登的Sapphire™自動測試平臺做為
        • 關鍵字: AMD  Sapphire  測試平臺  測試測量  
        共45條 3/3 « 1 2 3

        測試平臺介紹

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