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        嵌入式邏輯分析儀在FPGA時序匹配設計中的應用(07-100)

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        作者:西南科技大學 信息工程學院 李俊艷 周巖 劉佳 中國工程物理研究院 電子工程研究所 高楊 九洲國家企業(yè)技術中心 梁正愷 蔡林飛 時間:2008-04-18 來源:電子產品世界 收藏

          使用Signal Tap II時應注意:

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/81757.htm

          ·用Signal Tap II 采集數(shù)據(jù)時,應符合采樣定律,即采樣頻率必須是信號最大頻率的兩倍或更高,否則采集到的波形會失真或者是一條全低的直線。

          ·采樣深度決定了每個信號可存儲的采樣數(shù)目,信號的數(shù)量和采樣深度的乘積不能超過所選FPGA芯片內部RAM的大小,添加待觀察信號、設置了采樣深度后,可以根據(jù)Signal Tap II的Instance Manager 窗口觀察內部存儲資源的使用情況。如果觀察的信號數(shù)量多,采樣深度設置受到限制,此時靈活設置觸發(fā)條件相當必要。圖4和圖7采集的波形都是以設置RGBdin[23..16]為00h為觸發(fā)條件,如圖4,7中的虛線所示。

          ·Signal Tap II必須工作在JTAG方式,調試完成后應將Signal Tap II文件移除,以免浪費FPGA資源。

          結語

          時序匹配是FPGA電路設計中的一個重要問題,介紹了一種應用嵌入式Signal Tap II捕獲FPGA內部信號波形的方法,通過比較分析采集的數(shù)據(jù),可得出精確的延時信息,指導FPGA時序匹配的設計。

          以LED全彩大屏同步顯示控制系統(tǒng)中顯示驅動控制部分的位面分離模塊為例,在嵌入式Signal Tap II的時序測試結果的指導下,設計一個由34個D觸發(fā)器構成的時序匹配模塊,經(jīng)實際電路的波形測試證明,信號時序匹配良好。


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