另外，還能對(duì)夾具接口、測(cè)試夾具和待測(cè)單元模塊(UUT)三者之間的連接通路實(shí)施一種完整性測(cè)試。這種測(cè)試用于檢測(cè)板上的信號(hào)源和感應(yīng)點(diǎn)之間的電流泄漏路徑。若泄漏路徑不存在，通常意味著上述三者之間不構(gòu)成電子連接。

　　劃棒診斷技術(shù)是另一種連通性測(cè)試方式，用來(lái)判定是否因?yàn)橛∷宓臄嗑€而導(dǎo)致測(cè)試故障。當(dāng)發(fā)生測(cè)試故障時(shí)，操作者可以用探棒按照測(cè)試系統(tǒng)的引導(dǎo)來(lái)逐個(gè)探測(cè)失敗器件的引腳。這種測(cè)試是用來(lái)檢測(cè)每根IC引腳與測(cè)針之間的連通性的，也能檢測(cè)出IC或印刷光板上的連線的受損狀況。

　　模擬器件測(cè)試

　　對(duì)模擬電路器件進(jìn)行測(cè)試時(shí)，通常對(duì)待測(cè)板不上電。通過(guò)實(shí)施一個(gè)對(duì)器件的外部激發(fā)過(guò)程來(lái)測(cè)試被動(dòng)的模擬器件得到測(cè)試結(jié)果。如果要測(cè)試像濾波器這樣復(fù)雜的器件，一般需要上電。在任何情況下，都需要將恰當(dāng)?shù)碾娫春蜏y(cè)量設(shè)備連到板上器件的引腳上。采用電源設(shè)備強(qiáng)制輸入電壓或電流，而采用測(cè)量設(shè)備檢測(cè)電壓或電流的輸出。

　　ATG將自動(dòng)分析每個(gè)模擬器件周?chē)碾娐罚缓蟮侥M電路程序庫(kù)(ATL)中去尋找匹配的測(cè)量配置。當(dāng)ATG在程序庫(kù)中找到了作為樣板的模擬電路測(cè)試程序后，將進(jìn)一步實(shí)施以下過(guò)程：

　　·確定板上器件的電源輸入點(diǎn)、信號(hào)檢測(cè)點(diǎn)和用于隔離周?chē)娐返臏y(cè)點(diǎn)。

　　·計(jì)算待測(cè)器件的值。

　　·檢查出錯(cuò)條件。

　　ATG的測(cè)試選擇過(guò)程能夠產(chǎn)生下列基本的用于測(cè)量阻抗的框架程序：

　　·2點(diǎn)未隔離測(cè)量和4點(diǎn)凱爾文測(cè)量

　　·4點(diǎn)和6點(diǎn)隔離測(cè)量

　　·6點(diǎn)隔離凱爾文測(cè)量

　　ATG還能判定測(cè)試系統(tǒng)有否8線模式，并且，在適當(dāng)?shù)臅r(shí)候，為小值器件編寫(xiě)精確的8線電阻測(cè)試程序。

　　一般，由ATG生成的每一段模擬器件測(cè)試程序都能大致完成以下功能：

　　·定義阻抗、容值、增益等恰當(dāng)?shù)臏y(cè)量參數(shù)，并且為它們選擇合適的激勵(lì)電流或電壓。

　　·制定如何將器件從周?chē)娐翻h(huán)境隔離出來(lái)的方案，以使得來(lái)自其它器件的交互性過(guò)程不影響到測(cè)量過(guò)程。

　　·為了觸發(fā)測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)的繼電器指令，需要選擇恰當(dāng)?shù)碾娐窚y(cè)試點(diǎn)連到測(cè)試系統(tǒng)的對(duì)應(yīng)的測(cè)量設(shè)備上。在某些情況下，針對(duì)模擬電路和數(shù)字電路的測(cè)試策略被一起用來(lái)制定測(cè)試方案。幸運(yùn)的是，ATG采用程序化的電路分析和對(duì)應(yīng)不同器件的測(cè)試程序庫(kù)來(lái)解決大多數(shù)的測(cè)試問(wèn)題。