電路中的元器件：

　　C45—小型斷路器，SA1、SA2—控制開關(guān)，—工作電壓指示(AC) ，Hz—頻率表，KT—被測產(chǎn)品，K—小型中間繼電器，KT1—保持用時(shí)間繼電器，KT2—休止用時(shí)間繼電器  KC—計(jì)數(shù)繼電器，PT—石英計(jì)時(shí)儀。

　　在檢測開始先閉合SA1開關(guān)，Hz頻率表來監(jiān)視AC220V電壓頻率，電壓表來指示被測產(chǎn)品的工作電壓，選擇PT石英計(jì)時(shí)儀“S”檔(根據(jù)被測產(chǎn)品延時(shí)時(shí)間來確定)。

　　將被測KT接入檢測線路中，閉合SA2，中間繼電器K得電吸合，常開K-2閉合，被測試KT線圈得電延時(shí)開始，同時(shí)繼電器K常閉觸點(diǎn)K-1斷開，使PT石英計(jì)時(shí)儀與被測產(chǎn)品計(jì)時(shí)同步開始；當(dāng)被測KT延時(shí)到達(dá)后，延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)接通，延時(shí)斷開的動(dòng)斷觸點(diǎn)斷開，使PT石英計(jì)時(shí)儀顯示時(shí)間數(shù)據(jù)保持暫停記錄其延時(shí)值，并使保持時(shí)間繼電器KT1得電開始延時(shí)，當(dāng)所設(shè)保持時(shí)間0.5~1S延時(shí)時(shí)間到后，KT1延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)閉合，延時(shí)斷開的動(dòng)斷觸點(diǎn)斷開，使KT2休止用時(shí)間繼電器線圈得電開始延時(shí)，并對(duì)KT延時(shí)閉合的動(dòng)合觸點(diǎn)自鎖，使KT1繼續(xù)保持通電狀態(tài)。當(dāng)休止用時(shí)間繼電器KT2延時(shí)時(shí)間到后，KT2延時(shí)閉合動(dòng)合觸點(diǎn)和延時(shí)斷開動(dòng)斷觸點(diǎn)分別接通斷開，動(dòng)合觸點(diǎn)加入KC計(jì)數(shù)繼電器計(jì)數(shù)端對(duì)被測產(chǎn)品測試次數(shù)進(jìn)行計(jì)數(shù)，KT1保持用時(shí)間繼電器失電，使中間繼電器K又重新開始得電工作，進(jìn)行下一次(輪)對(duì)被測產(chǎn)品的延時(shí)參數(shù)進(jìn)行檢測，工作程序如上分析。當(dāng)被測次數(shù)n與KC計(jì)數(shù)繼電器所預(yù)置相同時(shí)，計(jì)數(shù)繼電器控制常閉觸點(diǎn)KC斷開，使整個(gè)測試過程結(jié)束。

　　此測試電路的缺點(diǎn)是：電路較為復(fù)雜，另外對(duì)被測產(chǎn)品不同的電壓規(guī)格不夠兼容(如被測產(chǎn)品其它電壓規(guī)定，則需對(duì)此電路需加改進(jìn))；每次檢測產(chǎn)品數(shù)量少(單只產(chǎn)品)，延時(shí)記錄需人工對(duì)每次測試結(jié)果進(jìn)行記錄，并最終對(duì)其記錄數(shù)據(jù)進(jìn)行計(jì)算處理；保持用KT1和休止用KT2兩個(gè)時(shí)間繼電器需根據(jù)產(chǎn)品延時(shí)時(shí)間進(jìn)行相應(yīng)設(shè)置。

　　基于單片機(jī)的測試系統(tǒng)

　　基于單片機(jī)的測試系統(tǒng)示于圖2。