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        《射頻混頻器總規(guī)范(GB)》

        作者: 時間:2006-12-11 來源:網(wǎng)絡 收藏
        1 主題內(nèi)容與適用范圍
        本標準規(guī)定了射頻混頻器的一般技術要求、質量保證規(guī)定以及包裝、貯存和運輸?shù)囊蟆?br />
        本標準適用于電子和通信設備中作平衡混頻器、相位檢出器、平衡調制器、幅度調制器、脈沖調制器
        和電流控制衰減器之用的射頻混頻器。

        2 引用標準

        下列標準的有效版本,在本標準規(guī)定的范圍內(nèi)構成本標準的一部分。

        GB 191 包裝儲運圖示標志
        GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程總則
        GB 2423. 1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法
        GB 2423.2 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法
        GB 2423. 4 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法
        GB 2423.5 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ea:沖擊試驗方法
        GB 2423. 10 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Fc:振動(正弦)試驗方法
        GB 2423.17 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ka:鹽霧試驗方法
        GB 2423.21 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M:低氣壓試驗方法
        GB 2423. 22 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法
        GB 2423. 28 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗T:錫焊試驗方法
        GB 2423.29 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗U:引出端及整體安裝件強度
        GB 2423.30 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗XA:在清洗劑中浸漬
        GB 2828 逐批檢查計數(shù)抽樣程序及抽樣表(適用于連續(xù)批的檢查)
        GJB 360.4 電子及電氣元件試驗方法浸漬試驗
        GJB 360.12 電子及電氣元件試驗方法密封試驗

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