使用上述類(lèi)似方法求解LO饋通時(shí)，通過(guò)改變基帶信號(hào)的增益和相位來(lái)抵消AQM的增益和相位誤差，可以校正邊帶抑制（SBS）。如TI的DAC34SH84等高速插值數(shù)模轉(zhuǎn)換器（DAC），包含了一些生成DC偏差、基帶信號(hào)增益和相位變化的數(shù)字電路，從而可以輕松修正AQM的缺陷。

盡管LO饋通和SBS均可在任何狀態(tài)下獲得完美的校正，但最佳校正值會(huì)隨電源電壓、溫度、RF和基帶頻率、LO功率等而變化。通常，僅在制造期間進(jìn)行一次校正，之后，在系統(tǒng)起動(dòng)時(shí)，再對(duì)這些值進(jìn)行存儲(chǔ)和編程。在一次性校正以后，LO饋通和SBS的溫度、電壓和LO功率差異通常會(huì)在AQM數(shù)據(jù)表曲線圖中標(biāo)明（參見(jiàn)TI TRF3705數(shù)據(jù)表圖33-44）。LO饋通和SBS通常會(huì)好于–50 dBc（比未校正值好10-15 dB）。