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        Freescale使用泰克 IConnect軟件為發(fā)射機建模

        作者: 時間:2010-04-29 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        背景描述

        許多公司已經(jīng)利用具有極強能力和性能的創(chuàng)造了大量輝煌成績。開發(fā)工作取得了新的突破,而他們的核心設(shè)計內(nèi)容是新的執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)。但某些情況下,在給建模時,理解傳輸中的潛在測量標(biāo)準(zhǔn)會使工程師感到困惑。

        飛思卡爾半導(dǎo)體在針對汽車、消耗裝置、工業(yè)和網(wǎng)絡(luò)化市場的嵌入式半導(dǎo)體設(shè)計和制造方面居世界領(lǐng)導(dǎo)地位,能發(fā)現(xiàn)新思路,并用Tektronix獨特的將其與現(xiàn)有建模方法相關(guān)聯(lián)。

        飛思卡爾半導(dǎo)體的信號整合工程師Naresh Dhamija曾說:“ 有了,我們能以不同的方式實現(xiàn)我們的方法,這真是太奇妙了。設(shè)計團隊現(xiàn)在能看到實際的Tx/Rx芯片終結(jié)電阻以及基板/封裝斷續(xù)情況?!彼€補充說:“用Iconnect軟件,可在測量的基礎(chǔ)上提取模型,不同于由模擬提取的純數(shù)學(xué)模型,這種模型更接近實際的硅。”

        飛思卡爾半導(dǎo)體使用Tektronix 為發(fā)射機建模

        在DSA8200 TDR平臺上運行時,IConnect軟件是一種效率高、使用方便且性價比高的解決方案,可在測量的基礎(chǔ)上對gigabit內(nèi)連鏈接和裝置進行性能演變,包括信號整合分析、阻抗、S參數(shù)以及可見圖形測試和故障隔離。

        處理過程

        圖1顯示了測量用的測試設(shè)置。這里,灰色區(qū)域內(nèi)的每個元件都是發(fā)射機的一部分,在帶有TDR測量探頭的DSA8200中用IConnect軟件進行測試時,可作為裝置設(shè)備。



        采用該設(shè)置,TDR和發(fā)射機產(chǎn)生振幅為100mV pk-pk的1010....(時鐘格式)作為到80E08采樣頭的輸入,并平均DSA8200中取得的300個采集點,從而過濾發(fā)射機的切換噪音。通過以上捕捉到的輸入,以Zo為參引,計算出Z線為50歐。在阻抗輪廓線上顯示最左邊為50歐,最右邊為42.5歐,即發(fā)射機的輸出阻抗,如圖3中IConnect捕捉到的所示。從TRD測量探頭一側(cè)看,為發(fā)射機的輸入阻抗。DUT上看到另一側(cè)-從發(fā)射側(cè)看為輸出阻抗。


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