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        EEPW首頁(yè) > 測(cè)試測(cè)量 > 設(shè)計(jì)應(yīng)用 > 在數(shù)字調(diào)制系統(tǒng)中進(jìn)行精確的非線性測(cè)量

        在數(shù)字調(diào)制系統(tǒng)中進(jìn)行精確的非線性測(cè)量

        作者: 時(shí)間:2010-11-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          諧波負(fù)載牽引的需要

          圖2是相對(duì)于諧波負(fù)載阻抗的PAE性能的典型標(biāo)繪。可看到,隨著第二諧波在一個(gè)特定相角終止,PAE得以優(yōu)化。而且,最佳PAE和最小PAE彼此十分相近。這也是諧波負(fù)載牽引對(duì)于優(yōu)化設(shè)計(jì)至為關(guān)鍵的另一原因。它不僅可確定最佳PAE、增益和最大功率的位置,還可識(shí)別應(yīng)避免的區(qū)域。此情況下,若設(shè)計(jì)限制導(dǎo)致匹配網(wǎng)絡(luò)變化達(dá)50?,則應(yīng)謹(jǐn)慎設(shè)計(jì),使網(wǎng)絡(luò)充分遠(yuǎn)離Imax 點(diǎn),以確??山邮艿男阅?。

          實(shí)現(xiàn)高精度的高伽瑪

          非線性運(yùn)行的設(shè)計(jì)要求之一是需要將諧波完全反射回器件,以便減少輸出諧波含量,提高PAE性能。這意味著,在進(jìn)行負(fù)載牽引流程的分析時(shí),諧波必須在器件輸出實(shí)現(xiàn)完全反射。當(dāng)負(fù)載牽引調(diào)諧器提供最大反射時(shí),在調(diào)諧器與器件之間的任何插入損失都會(huì)導(dǎo)致器件的伽瑪降低。此等測(cè)量皆為使用探測(cè)臺(tái)和探頭尖的在片測(cè)量。由于長(zhǎng)射頻線和高損失探頭尖,這些系統(tǒng)的插入損失相當(dāng)大,遠(yuǎn)不能達(dá)到器件的理想伽瑪要求。

          Anritsu/HFE 主動(dòng)調(diào)諧器為非線性器件提供最佳伽瑪

          Anritsu/HFE非線性系統(tǒng)可使用被動(dòng)或主動(dòng)調(diào)諧器安裝。配置Anritsu/HFE主動(dòng)回路調(diào)諧器后,可在DUT端口實(shí)現(xiàn)高達(dá)1的伽瑪。圖3為主動(dòng)回路調(diào)諧器配置的一個(gè)實(shí)例。請(qǐng)注意,被動(dòng)和主動(dòng)調(diào)諧器可組合應(yīng)用,在預(yù)算允許時(shí),可分階段從被動(dòng)調(diào)諧器升級(jí)至主動(dòng)調(diào)諧器。

          圖3 主動(dòng)回路調(diào)諧器配置實(shí)例

          負(fù)載牽引分析和模型模擬

          負(fù)載牽引分析提供實(shí)際條件下工作器件的測(cè)量數(shù)據(jù)。假定器件代表同一晶片(以及后續(xù)晶片)上所有器件的典型性能,則該測(cè)量數(shù)據(jù)可用于為器件產(chǎn)品設(shè)計(jì)最佳網(wǎng)絡(luò)。另外,該數(shù)據(jù)可導(dǎo)出到EDA程序,用于創(chuàng)建、運(yùn)行或改善模型。



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