一種適用于UHF頻段RFID 近場天線的阻抗測量方法
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圖 5 是這款天線加工實物的阻抗測量照片，可以看出天線直接外接出一根長為l 的同軸線和矢量網(wǎng)絡分析儀相連接。表格I 給出了天線測量時的主要尺寸。
2 De-embedding 技術
通過第一節(jié)的方法，可以得出帶有同軸線參數(shù)的NFRA 回波損耗參數(shù)。De-embedding技術就是用來消除同軸線參數(shù)的影響得到NFRA 真實阻抗的一種技術[5,6]。圖6 給出了使用De-embedding 技術測量的等效電路模型，其中，同軸線被一段長為l 的傳輸線等效
3 測量結果
圖 7 給出的是沒有添加匹配網(wǎng)絡時的S 參數(shù)的測量值和仿真結果的比較，可以看出測量的結果和使用HFSS 軟件得到的仿真結果基本吻合。仿真結果的回波損耗在865MHz-868MHz 很小，這將會導致仿真的阻抗值的不精確?？梢钥闯?，在865MHz-868MHz，
仿真得出的回波損耗為0.88dB 而測量得出的回波損耗為1.3dB.
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