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        探頭在捕獲高速信號上的技術(shù)進(jìn)步

        作者: 時(shí)間:2012-03-26 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        取決于負(fù)載,延遲或許不是頻率常數(shù)。這意味著信號由不同的沿速率(不同頻率成份)會被延遲不同的數(shù)量。當(dāng)和輸入從容性變到感性諧振時(shí),延遲也變化。甚至試圖減少LC諧振的幅度影響,也會使信號的時(shí)間延遲失真。唯一真正的解決方案是移到被測頻率之上的諧振頻率。

        頻域中,時(shí)間偏移表現(xiàn)為群時(shí)延。定義為相位改變除以頻率的改變。理想的傳輸線有恒定的群時(shí)延(意味著延遲獨(dú)立于頻率)。同樣,容性負(fù)載也有恒定的群時(shí)延。更復(fù)雜的負(fù)載電路表現(xiàn)出隨信號變化的頻率成份而改變的延遲。這產(chǎn)生了信號中的確定性抖動(dòng),通過替換信號的連接而簡化。

        示例探頭的群時(shí)延如Figure 7所示。垂直單位是ns。注意,類似于幅度損失,延遲也是被測電路阻抗的函數(shù)。此外,如果有人預(yù)計(jì)探頭在信號上產(chǎn)生的影響,特定的信號屬性將包括在仿真中。



        決定信號的探頭負(fù)載效應(yīng)是很難的。最簡單的方法是通過可以探測信號的夾具連接信號(或者典型信號)到測量儀器的輸入。這樣的夾具如下圖(Figure 8)所示。這是一個(gè)50歐姆微帶傳輸線,提供到儀器的極低失真連接。使用這個(gè)夾具,可以測量信號在探頭連接或不連接情況下檢測信號形狀的任何變化或由負(fù)載效應(yīng)導(dǎo)致的時(shí)序。

        我們可以通過安裝在力科WaveMaster示波器輸入的夾具展示這個(gè)方法,并顯示這個(gè)信號在探頭連接或不連接夾具時(shí)的跡線。觸摸探頭只有極少的影響。Figure 9 展示Probe A通過信號放置的負(fù)載產(chǎn)生的結(jié)果。

        為了確定負(fù)載引起的延遲效應(yīng),用戶必須在獨(dú)立的信號上觸發(fā)示波器以便觸發(fā)點(diǎn)不隨著探頭而偏移。示波器設(shè)置成非負(fù)載信號(儲存在內(nèi)存M1中)幅度和延遲和負(fù)載信號(顯示在通道1中)。之前對于在信號形狀上探頭負(fù)載效應(yīng)測試,沒有大多數(shù)可預(yù)期的效應(yīng)。好的探頭不會改變上升沿的形狀或相對于觸發(fā)點(diǎn)的邊沿時(shí)序。這里,斜的信號邊沿被衰減,時(shí)間延遲了7ps。因?yàn)槲覀兛吹綄τ谶@樣的一個(gè)探頭群時(shí)延不是常數(shù),這個(gè)值隨著頻率成份(上升沿)的改變而改變。

        新的WaveLinks探頭不通過同一個(gè)測試信號,測量結(jié)果如Figure 10 所示。由于探頭負(fù)載(1%)信號幅度有輕微的減少,但主要的信號邊沿完全沒有失真。探頭阻抗產(chǎn)生的延遲是2ps,不會隨著信號頻率改變。

        這個(gè)同樣的夾具可以用于頻域測量。通過測試夾具的信號插損可被測量,由探頭負(fù)載增加的插損,還有群時(shí)延都可被顯示。

        探頭可以引起被測信號幅度和時(shí)間上的顯著變化。越低的探頭,這些改變越厲害,被測電路的特定屬性越依賴于這些改變。這些改變,尤其是時(shí)間偏斜會被顯著損害,因?yàn)橥ㄟ^功能系統(tǒng)傳播導(dǎo)致系統(tǒng)中其他點(diǎn)的失效測量。一個(gè)探頭輸入阻抗的準(zhǔn)確模型要求完全評估這些在用探頭時(shí)可以看到的效應(yīng)。

        差分探頭具有固有的較低負(fù)載,現(xiàn)在的問題是增加到非常高的帶寬差分放大器(這里是7.5GHz)已被解決,這么一個(gè)探頭的所有的高頻測量是最好的。WaveLink系列探頭在這些任何已有的高頻探頭中具有最低的負(fù)載,提供了測試信號的最低失真。


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