高精度直流微電阻測(cè)試儀的研究與開發(fā)-----硬件系統(tǒng)設(shè)計(jì)（一）
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電壓就成了無法與被測(cè)信號(hào)分離的“誤差電壓”。在這種情況下，本儀器采用了自穩(wěn)零運(yùn)算放大器，其基本設(shè)計(jì)思路是：將放大器的失調(diào)電壓記憶在記憶電容上，然后將它回送到放大器的輸入端，以抵消放大器本身的失調(diào)電壓。其原理圖如圖3.4。
電路分為兩個(gè)階段，第一階段為檢測(cè)誤差電壓和寄存誤差電壓到記憶電容q的階段。第二階段即實(shí)現(xiàn)對(duì)失調(diào)電壓接近理想的校正，并進(jìn)行放大。自校零技術(shù)能夠?qū)⒘泓c(diǎn)漂移的影響降低至snV/℃。
由于要實(shí)現(xiàn)對(duì)微小電阻的測(cè)量，所以要求放大器的分辨率高（高達(dá)10uV），線性度好，輸入阻抗高，并要求漂移低、噪聲低和抗干擾能力強(qiáng).應(yīng)選用精密電阻和精密電位器，使溫度的影響降至最低.為此，本測(cè)試儀的放大系統(tǒng)主要采用高精度集成運(yùn)放OP177、IC76Rc實(shí)現(xiàn)。該電路的特點(diǎn)是：輸入失調(diào)電壓溫度漂移低，輸入失調(diào)電流溫度漂移低，等效輸入噪聲電壓小，等效輸入噪聲電流小，開環(huán)差模電壓增益高，共模抑制比高。在本電路中，采用了差模輸入的方法來減少誤差。
評(píng)論