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        寬帶阻抗測量儀的設(shè)計——阻抗測量理論及其方法

        作者: 時間:2013-02-19 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        品質(zhì)因素(Q)是電抗純度的度量(即與純電抗,也就是與沒有電阻的接近程度),表達式見式(2-10)??吹絈是θ角的正切。Q一般適用于電感器,對于電容器來說,表示純度的這一項通常用損耗因素(D)表示。其表達式見式(2-11)。損耗因素是(Q)的倒數(shù),它也是θ補角的正切。



        為了測量阻抗我們至少需要測量兩個量值。因為阻抗是一個復數(shù)。許多現(xiàn)代阻抗測試儀測量阻抗矢量的實部和虛部,然后將它們轉(zhuǎn)換成所需要的參數(shù),比如Z,θ,Y,R,X,G,B.所有電路元件既不是純粹的電阻性元件,也不是純粹的電抗性元件,而是這些阻抗成分的組合。

        元件阻抗的測量值除與本身的寄生參數(shù)有關(guān)以外還與多種測量條件有關(guān)。

        比如頻率,測試信號電平等。對于采用不同材料和制作工藝的元件,這些元件影響因素的影響程度也各不相同。

        頻率:由于存在寄生參數(shù),因此頻率對所有實際元件都有影響。并非所以的寄生參數(shù)都會影響測量結(jié)果,但正是某些主要的寄生參數(shù)確定了元件的頻率特性。當主要元件的阻抗值不同時,主要的寄生參數(shù)也有所不同。

        測試信號電平:對某些元件來說,所施加的測試信號(AC)可能會影響測量結(jié)果。這一影響隨制作陶瓷電容器材料的介電常數(shù)(K)而變化。由于鐵芯材料存在磁滯,因而鐵芯電感器與測試信號的電流有關(guān)。

        直流偏置:對于二極管和晶體管這樣的半導體元件,直流偏置影響量是普遍存在的。一些無源元件也存在直流偏置影響量。所施加的的直流偏置對高K值型介電陶瓷電容器有很顯著的影響。對于鐵芯電感器,電感量的變化由流過鐵芯的直流偏置電流確定。這是由于鐵芯材料的磁通飽和特性。

        溫度:大多數(shù)元件都存在溫度影響因素。對于電阻器、電容器和電感器,溫度系數(shù)是一項重要的指標。

        其他物理和電氣環(huán)境,如濕度、磁場、光、大氣條件、振動和時間都會改變阻抗值。例如,高K值型介電陶瓷電容器的電容會隨著老化而降低。

        就是基于對R和X的測量,或者是|Z|和θ的測量。隨著電子技術(shù)與數(shù)字測量網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展,在測量方法上逐漸形成了阻抗模擬測量法和數(shù)字測量法兩大分支。模擬測量法包括、諧振法和σ值測量法。數(shù)字測量法有矢量電壓電流法和自動平衡。因此相應的儀器就分為模擬儀和數(shù)字阻抗測量儀兩種。

        1.2阻抗測量方法

        阻抗測量可分為模擬測量法和數(shù)字測量法兩種,本節(jié)詳細介紹相關(guān)的測量方法及其優(yōu)缺點,并結(jié)合本課題的設(shè)計要求選取一種最為可行的方式作為設(shè)計中采用的方法。

        2.2.1

        電橋法是采用模擬法測量阻抗值,早期多采用電橋法來測量阻抗值。電橋法基本工作原理是四臂電橋電路,電路原理圖如圖2-3所示。

        電橋法測量阻抗原理



        圖中Z l,Z 2,Z 3,Z x為電橋的四臂的阻抗,其中Z x為所要測量的阻抗。整個電橋由信號源供電,G為電橋的平衡指示器,當電橋橋路平衡時,U ab =0,橋臂平衡指示器上無電流流過。

        根據(jù)克?;舴蚨?,得出式(2-12)。



        這就是電橋法測量的平衡條件,當橋路中有三個橋臂值已知時,待測量阻抗才可以求得。電橋法阻抗測量儀的結(jié)構(gòu)圖如圖2-4所示,它由測量信號源、測量橋路、平衡指示電路、平衡調(diào)節(jié)機構(gòu)、顯示電路和電源等組成。


        電橋法阻抗測量儀的結(jié)構(gòu)圖


        2.2.2諧振法

        諧振法也是模擬測量阻抗值得一種方法,是利用調(diào)諧回路的諧振特性而建立的阻抗測量方法。測量線路簡單方便,在技術(shù)上的困難要比高頻電橋小。它的原理圖如圖2-5所示。


        諧振法測量原理圖



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