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        理解MOSFET開關損耗和主導參數

        作者: 時間:2012-06-24 來源:網絡 收藏

        Coss越大或在DS極額外的并聯(lián)更大的電容,關斷時越接近理想的ZVS,關斷功率損耗越小,那么更多能量通過Coss轉移到開通損耗中。為了使整個開關周期都工作于ZVS,必須利用外部的條件和電路特性,實現(xiàn)其在開通過程的ZVS。如同步BUCK電路下側續(xù)流管,由于其寄生的二極管或并聯(lián)的肖特基二極管先導通,然后續(xù)流的同步才導通,因此同步MOSFET是0電壓導通ZVS,而其關斷是自然的0電壓關斷ZVS,因此同步MOSFET在整個開關周期是0電壓的開關ZVS,非常小,幾乎可以忽略不計,所以同步MOSFET只有RDS(ON)所產生的導通損耗,選取時只需要考慮RDS(ON)而不需要考慮Crss的值。

        注意到圖1是基于連續(xù)電流模式下所得到的波形,對于非連續(xù)模式,由于開通前的電流為0,所以,除了Coss放電產生的功耗外,沒有開關的損耗,即非連續(xù)模式下開通損耗為0。但在實際的檢測中,非連續(xù)模式下仍然可以看到VGS有米勒平臺,這主要是由于Coss的放電電流產生的。Coss放電快,持續(xù)的時間短,這樣電流迅速降低,由于VGS和ID的受轉移特性的約束,所以當電流突然降低時,VGS也會降低,VGS波形前沿的米勒平臺處產生一個下降的凹坑,并伴隨著振蕩。

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