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        電子組件的電熱建模與可靠性預測(一)

        作者: 時間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡 收藏
        DING-TOP: 0px; -webkit-text-size-adjust: auto; -webkit-text-stroke-width: 0px">  1. REBECA-3D的應用領域

          REBECA-3D的主要應用領域包括: (a) MEMS/MST; (b) 微觀三維結構(硅和砷化鎵); (c) 封裝; (d) MMIC、HEMT器件; (e) MCM (多芯片模塊、倒裝芯片……); (f) 合成器件(薄膜/厚膜/MIC……); (g) 功率電子模塊; (h) 光電器件;

          2. REBECA-3D的獨創(chuàng)性

          REBECA-3D的獨創(chuàng)性與其采用的數(shù)值方法緊密相關。REBECA-3D建立在邊界元法的基礎上,這種數(shù)值方法的采用直接帶來了大量的優(yōu)勢和全新的可能。

          

        電子組件的電熱建模與可靠性預測(一)

          正如Sevilla大學的Dominguez教授所說:“邊界元法已成為替代有限元法(以及有限差分法等)的一種功能強大的方法,尤其是在需要更高精度的時候。”此外,“在許多工程應用中,有限元法已被證明是不足夠的或低效率的。”而邊界元法則是效率和速度的雙重結果。

          “在很多情況下,經(jīng)典的數(shù)值方法使用起來過于麻煩,因此很難將它們集成到計算機輔助工程設計系統(tǒng)中去。例如,有限元法仍然是一種相對較慢的設計方法,以至于許多工程師寧愿選擇一般但非??斓慕品椒?。”相反,邊界元法只包括模型邊界的離散化處理,然后提供一種更快的問題建模方法。對于三維模型,它可以更為迅速地評估具體設計中的參數(shù)變化。在需要進行設計優(yōu)化和熱性能表征的尖端電子器件分析中,減少計算時間已成為一項優(yōu)先考慮。


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