筑波網(wǎng)絡科技與蘇州星測半導體攜手于2024年01月25日舉辦共同實驗室揭牌暨簽約儀式開幕茶會，并與美商泰瑞達Teradyne共同舉辦車規(guī)級第三代半導體整合測試與應用研討會，本次聚焦于車載中所面臨的驗證挑戰(zhàn)及測試解決方案。

圖：講師群共襄盛舉開幕茶會：左起筑波網(wǎng)絡科技 黃博彥半導體銷售總監(jiān)、蘇州星測半導體 Alex Li CTO、蘇州正齊半導體 柳焱佳技術(shù)總監(jiān)、筑波網(wǎng)絡科技 許深福董事長、泰瑞達 范敏業(yè)務總監(jiān)、泰瑞達 林思博業(yè)務總監(jiān)

本次活動由筑波網(wǎng)絡科技 董事長許深福致歡迎詞：「筑波與泰瑞達共同推展ETS方案，并與星測半導體提供特別專為IPM/PIM測試而設計的靜/動態(tài)基本測試方案。很榮幸透過今日蘇州共同設立的實驗室開幕，以及年度首場研討會，為2024年蘇州在地半導體測試服務創(chuàng)下新里程」。

本次重量級講師與主題包含筑波網(wǎng)絡科技 黃博彥半導體銷售總監(jiān)所帶來的第三代半導體市場趨勢與機會，特為2024年的市場發(fā)展發(fā)表獨特見解；泰瑞達 范敏業(yè)務總監(jiān)則針對車規(guī)級芯片中的驗證挑戰(zhàn)進行深入探討；蘇州星測半導體 Alex Li CTO分享SIC MOSFET KGD 測試整合方案；壓軸由蘇州正齊半導體 柳焱佳技術(shù)總監(jiān)講演車載功率模塊測試解決方案?；顒游猜曇嗾故綝CM/HPD FT，讓現(xiàn)場貴賓了解用于測量半導體器件電容變化的功能測試；以及GaN MOSFET CP 測試方案，在不同電源電壓或電流條件下對器件進行測試，評估器件在不同功率水平下的性能，助于確定GaN MOSFET的電性能、功率特性和穩(wěn)定性。

筑波網(wǎng)絡科技于2023年半導體測試領域有卓越的成效，在深圳設立半導體EC工程中心。今日活動業(yè)界貴賓云集，筑波藉由今日開幕茶會暨研討會，為2024揭開序幕，特別呈現(xiàn)與星測合作的ETS動態(tài)測試整合方案亮點，期望將過往的成功經(jīng)驗復制至其他客戶端。因應在地建立自有車用半導體供應鏈的未來市場趨勢，筑波可結(jié)合泰瑞達ETS的優(yōu)勢，在售前、售后服務、定期訓練課程上提供差異化的支持。