亞德諾半導(dǎo)體（Analog Devices，ADI）推出新一代16至24位超高精度逐次漸近緩存器（SAR）模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器（ADC）系列產(chǎn)品，可簡化在儀器儀表、工業(yè)和醫(yī)療健康應(yīng)用領(lǐng)域中復(fù)雜的ADC設(shè)計(jì)。新型高性能SAR ADC系列采用ADI專利的Easy Drive技術(shù)和通用Flexi-SPI串行周邊接口（SPI），可因應(yīng)系統(tǒng)設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)并擴(kuò)大直接兼容的配套產(chǎn)品選擇范圍。
ADI的Easy Drive技術(shù)在保持組件性能的同時(shí)亦克服傳統(tǒng)系統(tǒng)級設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)，例如嚴(yán)格的布局指南及數(shù)字接口時(shí)序要求，以及復(fù)雜的配套產(chǎn)品選擇。通用的Flexi-SPI數(shù)字接口提供易于滿足的時(shí)序要求，簡化主機(jī)處理器和ADC整合。結(jié)合高性能與重新構(gòu)想的數(shù)字接口提供更好的整體設(shè)計(jì)體驗(yàn)，同時(shí)加快系統(tǒng)設(shè)計(jì)周期。
該接腳兼容的SAR ADC系列具有6款產(chǎn)品，第一款是24位雙信道同步采樣、每通道2 Msps的AD4630-24，其擁有領(lǐng)先的精度（INL）額定值為0.9 ppm，高出其他解決方案4倍。AD4630-24將基準(zhǔn)緩沖器和所有關(guān)鍵解耦組件整合至單一芯片中，與其他解決方案相比密度提升了2倍。
ADI電子測試與測量部門總經(jīng)理Ray Goggin表示，性能和速度的結(jié)合將帶來更精準(zhǔn)、更穩(wěn)定的數(shù)字控制回路，能以更低的延遲穩(wěn)定于其最終設(shè)定點(diǎn)。該ADC系列體現(xiàn)了ADI的技術(shù)演進(jìn)，其進(jìn)一步簡化設(shè)計(jì)、評估流程，并使數(shù)控精密儀器產(chǎn)品更快上市。