ARM的研究員及技術(shù)總監(jiān)Rob Aitken稱芯片生產(chǎn)范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設(shè)計(jì)的指標(biāo)，取代原先的摩爾定律。

7月19日消息，ARM的研究員及技術(shù)總監(jiān)Rob Aitken稱：芯片生產(chǎn)范式正在改變，其建議將每瓦性能作為芯片設(shè)計(jì)的指標(biāo)，取代原先的摩爾定律。每瓦性能是其引入新范式標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)旨在讓工程師以更少的功耗達(dá)到指定的性能指數(shù)。根據(jù)摩爾的說法，芯片上的晶體管密度每18個(gè)月就會(huì)翻一番，隨之而來的便是芯片性能的翻倍。

Rob Aitken表示目前芯片領(lǐng)域遇到瓶頸，因?yàn)槟壳肮に嚤平铀剑?a class="contentlabel" href="http://www.antipu.com.cn/news/listbylabel/label/摩爾定律">摩爾定律已經(jīng)開始失效。雖然隨著芯片上的晶體管密度的增加，芯片的性能也會(huì)增加，但系統(tǒng)卻越發(fā)低效。建議為芯片生產(chǎn)行業(yè)引入庫米定律以及每瓦性能的新范式標(biāo)準(zhǔn)，庫米定律描述的是每焦耳的計(jì)算次數(shù)這一指標(biāo)每18個(gè)月翻一倍。