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        宜特晶圓減薄能力達1.5mil

        作者: 時間:2021-01-07 來源:美通社 收藏

        隨5G、物聯(lián)網(wǎng)、電動車蓬勃發(fā)展,對于低功耗要求越來越高,功率半導體成為這些產(chǎn)業(yè)勢不可擋的必備組件。(TWSE: 3289)晶圓后端工藝廠的能力也隨之精進。今(1/6)宣布,晶圓后端工藝廠(竹科二廠),通過客戶肯定,成功開發(fā)達1.5mil(38um)技術,技術門坎大突破。同時,為更專注服務國際客戶,即日起成立宜錦股份有限公司(Prosperity Power Technology Inc)。

        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/202101/421869.htm

        使用控片測得2mil、1.5 mil、1.5 mil優(yōu)化條件后的損壞層厚度及TEM分析
        使用控片測得2mil、1.5 mil、1.5 mil優(yōu)化條件后的損壞層厚度及TEM分析

        指出,功率半導體進行“減薄”,一直都是改善工藝,使得功率組件實現(xiàn)“低功耗、低輸入阻抗”最直接有效的方式。除了有效減少后續(xù)封裝材料體積外,還可因降低RDS(on)(導通阻抗)進而減少熱能累積效應,以增加芯片的使用壽命。

        但如何在減薄工藝中降低晶圓厚度,又同時兼顧晶圓強度,避免破片率居高不下之風險自晶圓減薄最大的風險。

        為解決此風險,iST宜特領先業(yè)界,已完成2mil(50um)、1.5mil(38um),甚至到0.4mil(10um)減薄技術開發(fā),iST宜特更藉由特殊的優(yōu)化工藝,在降低晶圓厚度的同時,也兼顧晶圓強度,可將研磨損傷層(Damage layer)降到最低。




        關鍵詞: 宜特 晶圓減薄

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