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        一種水位檢測方案的探針失效分析與研究

        作者:施煒,楊麗,艾歐史密斯(中國)熱水器有限公司 時間:2020-10-20 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
        編者按:一款帶水位檢測的產(chǎn)品在進(jìn)行加速老化壽命測試的時候發(fā)現(xiàn)水位檢測探針出現(xiàn)銹蝕、斷裂的故障,嚴(yán)重的還出現(xiàn)了水位檢測探針被銹蝕斷開的現(xiàn)象。經(jīng)過測試和分析,判斷為水位檢測電路設(shè)計缺陷,從而導(dǎo)致其中一根水位探針上電流過大引起的電解腐蝕和結(jié)垢問題。本文對失效原理進(jìn)行了分析并對電路設(shè)計進(jìn)行了改進(jìn),有效提高了探針壽命。


        本文引用地址:http://www.antipu.com.cn/article/202010/419389.htm

        0   引言

        具有儲水容器的家電,廚衛(wèi)電器一般都具有功能。因此對的準(zhǔn)確性,可靠性有較高的要求。同時由于儲水容器內(nèi)的水質(zhì)存在差異(可能是自來水、純凈水、收集廢水等),因此對的壽命也有較高的要求。

        1   問題發(fā)現(xiàn)

        我司一款產(chǎn)品上市前進(jìn)行的加速壽命測試中,發(fā)現(xiàn)有多臺機器出現(xiàn)一根水位失效的現(xiàn)象?,F(xiàn)象明確為嚴(yán)重生銹或銹蝕斷開,同時還伴有溫度嚴(yán)重的現(xiàn)象,且穩(wěn)定復(fù)現(xiàn),問題亟待分析解決。

        2   失效原因分析

        水位銹蝕,溫度探頭現(xiàn)象如圖2.1所示。

        嚴(yán)重的為溫度探針,溫度探針外殼為不銹鋼金屬此材質(zhì),在電路中作為公共參考電極。生銹嚴(yán)重并斷掉一截的為水位檢測探針。測試條件為自來水敞開式加熱70°C,并不停補水,經(jīng)過大約兩個月左右的時間,水的值從自來水的150左右變?yōu)槌^1000。

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        圖2.1 水位探針銹蝕和溫度探針結(jié)垢

        2.1電路分析

        經(jīng)過對水位檢測電路的分析,并將新產(chǎn)品和老產(chǎn)品進(jìn)行了對比,發(fā)現(xiàn)了一些不同點。

        新老產(chǎn)品的檢測基本原理是相似的,但是在信號處理上有不同點。老品對水位的檢測方法為主電極施加正負(fù)5V的周期方波電壓,三根檢測探針分別通過檢測流過探針的電流信號來檢測高、中、低三種狀態(tài)的水位,基本電路如圖2.1.1和圖2.1.2所示:三極管Q13的基極由MCU控制周期性開關(guān),5V電壓經(jīng)過三極管Q13,再通過隔值電容C7轉(zhuǎn)換為正負(fù)電壓,施加到水中,經(jīng)過水電阻之后再被二極管D4整流、電阻R24、R92、電容C20、C27進(jìn)行RC濾波后變成一個模擬量電平信號給MCU的AD口檢測。TVS管TVS1、TVS2和磁珠FB1、FB2用于靜電和EFT改善。

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        圖2.1.1 水位檢測電路信號施加端

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        圖2.1.2 水位檢測電路信號檢測端,三組

        新產(chǎn)品考慮了對主電極的電位保護,防止鈍化,對水位檢測電路進(jìn)行了優(yōu)化:主電極和三個檢測電極采用了導(dǎo)極的原理,同時施加周期相同,極性相反的5V方波信號,三個檢測電極實時檢測電極上的電壓信號作為判斷。電路方案如圖2.1.3和圖2.1.4所示:MCU控制主電極施加周期性5V電壓,施加電壓時正半周期主電極側(cè)三極管Q13打開,三極管Q14關(guān)閉,5V電壓通過三極管Q13接到電極經(jīng)過水到達(dá)副電極,副電極的三極管Q17關(guān)閉,Q18打開,電流經(jīng)過主電極Q13和副電極Q18到地;負(fù)半周期主電極Q13關(guān)閉,Q4打開,電極Q17打開,Q18關(guān)閉,電流流向為Q17到電極到水再到Q14回到地。三個副電極施加極性相反周期一致的5V電壓, MCU進(jìn)行檢測,判斷水位。R72和R73為限流電阻,將電極的電壓信號提供給MCU檢測判斷水位。TVS1、TVS2為靜電和EFT防護器件。

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        圖2.1.3信號施加端

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        圖2.1.4信號檢測端,三組

        2.2信號測量

        對新老兩種設(shè)計的水位檢測電路的電極電壓、電流值進(jìn)行了測量,電流測量點為電極接入處,電壓為電極兩端。發(fā)現(xiàn)在同等條件下老品的檢測主探針上流過的電流遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于新電路主探針上的電流。

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        圖2.2.1 值為159的自來水兩種設(shè)計測試結(jié)果

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        圖2.2.2 值為1639的鹽水兩種設(shè)計測試結(jié)果

        用TDS值為159的自來水測試,新老對比,老品檢測主電極探針的平均電流值為0.5mA,新品的平均電流值為1.5mA;在TDS值為1639的水質(zhì)下測試,老品主電極探針施加電流為1mA左右,而新品施加電極電流達(dá)到了15mA左右。實際加嚴(yán)測試時采用的自來水持續(xù)加熱(溫度為70°C),且水位檢測端持續(xù)施加電流。自來水在加熱過程中容易形成水垢,水垢主要成分為鈣、鎂離子,主要自來水中,硬度越高的水中的鈣鎂離子越多[1]。自來水再加入過程中消耗后再度添加自來水,隨著不停地添加水,其中的Ca、Mg離子也在不斷累積。因為在高溫下,水中的Ca、Mg鹽的溶解度大幅度降低,且在持續(xù)的施加電流下,水中的鈣、鎂、等離子易在陰極形成結(jié)垢[2]。在新電路中,為了防止電極鈍化,采用了導(dǎo)極的電壓施加方式,施加電壓的時候是不停變換極性的,正半周期施加端為正,檢測端為負(fù),負(fù)半周期檢測端為正,施加端為負(fù),也就是讓原來的陰極變陽極,陽極變陰極[3],同時為了測試的準(zhǔn)確性,又必須引入?yún)⒖茧娢涣泓c,將溫度探針的外殼接地,這就使溫度探針外殼電流也很大,導(dǎo)致了結(jié)垢嚴(yán)重。電壓施加在水位檢測探針的鐵金屬表面,而流過主電極的電流是三個檢測電極的電流之和,使主電極加速電解,形成電解[4]。這就不難理解為什么新品的主電極會銹蝕、斷裂,溫度探針為什么會結(jié)垢。

        3   改進(jìn)措施及驗證

        3.1改進(jìn)措施

        經(jīng)過分析,電路設(shè)計時對水阻的考慮不充分,設(shè)計串聯(lián)電阻阻值偏小導(dǎo)致電路中電流偏大,引起和結(jié)垢。圖2.1.3中R25,圖2.1.4中R82,設(shè)計阻值為47歐姆,測試在高TDS值下電流值達(dá)到50mA(最大)。將改為主電極串聯(lián)電阻,三個檢測電極串聯(lián)電阻都改為510K。

        3.2效果驗證

        改進(jìn)后分別采用了TDS值為7的純凈水、159的自來水、2198的高鹽水進(jìn)行了測試驗證,驗證效果如下:

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        圖3.2.1 TDS值為7 的純凈水

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        圖3.2.2 TDS值為159 的自來水

        TDS值為7的純凈水測試,主電極電流值為0.5mA;用TDS值為159的自來水測試,主電極電流值為0.6mA;用TDS值為2198的鹽水測試,主電極電流值為0.6mA;再對比老品在高TDS值水質(zhì)下的測試結(jié)果約1.3mA,改進(jìn)后測試結(jié)果優(yōu)于老品。

        經(jīng)過軟禁檢測方法調(diào)整,在TDS值為0的屈臣氏純凈水到2000以上的鹽水均可以準(zhǔn)確測試三擋水位數(shù)據(jù)。經(jīng)過1個月加速老化測試,達(dá)到優(yōu)于老品的測試結(jié)果。

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        圖3.2.3 TDS值為2198 的鹽水

        4   結(jié)論

        本文從問題的發(fā)現(xiàn)到失效機理、電路等方面的分析再通過充分的測試驗證達(dá)到了解決問題的目的。整改方案思路清晰明確,具有一定參考價值。

        參考文獻(xiàn):

        [1] 張念龍.運城鹽湖區(qū)域淺層地下水硬度特征及成因初步探討[J].地下水,2015(6):36-38

        [2]肖曾利,蒲春生,時宇等。油田水無機結(jié)垢及預(yù)測技術(shù)研究進(jìn)展[J].斷塊油氣田,2004,11(6):76278.

        [3]徐萌,常明。利用導(dǎo)極的方法實現(xiàn)去除陰極結(jié)垢的研究[J].天津理工大學(xué)學(xué)報,2009,8(4期25卷)23-25。

        [4]《海洋大辭典》編輯委員會;嚴(yán)宏謨;李龍章,王永保,鄒德臣等.海洋大辭典 A Dictionary of Marine Science:遼寧人民出版社 出版時間:,1998

        作者簡介:

        施煒,碩士學(xué)歷,2006年畢業(yè)于南京理工大學(xué)測試計量技術(shù)及儀器專業(yè)。從事電子電路的硬件設(shè)計工作10余年。目前就職于A.O.Smith,負(fù)責(zé)電控部件的硬件設(shè)計工作。獲得多項國家專利。

        (注:本文來源于《電子產(chǎn)品世界》雜志2020年10月期)



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